[发明专利]测试和测量设备和操作方法有效
| 申请号： | 201711389054.1 | 申请日： | 2017-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN108627718B | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 托比亚斯·弗雷德 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 倪斌 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了用于测试被测电子设备(150、250、350)的测试和测量设备(100、200、300)，所述测试和测量设备(100、200、300)包括：测试控制器(101、201、301)，被配置为基于相应用户提供的配置参数(102、202、302)来控制所述测试和测量设备(100、200、300)与所述被测电子设备(150、250、350)执行测试；以及存储设备(103、203、303)，其耦接到所述测试控制器(101、201、301)，其中所述测试控制器(101、201、301)被配置为针对每次测试在存储设备(103、203、303)中自动存储包括用户提供的配置参数(102、202、302)的参数集。此外，本发明提供了一种用于操作测试和测量设备(100、200、300)的操作方法。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 测量 设备 操作方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试被测电子设备(150、250、350)的测试和测量设备(100、200、300)，所述测试和测量设备(100、200、300)包括：测试控制器(101、201、301)，被配置为基于相应的用户提供的配置参数(102、202、302)来控制所述测试和测量设备(100、200、300)与所述被测电子设备(150、250、350)执行测试，以及存储设备(103、203、303)，耦接到所述测试控制器(101、201、301)，其中所述测试控制器(101、201、301)被配置为针对每次测试在所述存储设备(103、203、303)中自动存储包括所述用户提供的配置参数(102、202、302)的参数集。
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