[发明专利]用于介质颗粒物电性能测试的电极测量装置有效
| 申请号： | 201711382837.7 | 申请日： | 2017-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN108225986B | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 王志浩;白羽;田东波;刘宇明;丁义刚;姜海富;李蔓;马子良;刘业楠;沈自才;郎冠卿;于强;李宇;杨艳斌 | 申请（专利权）人： | 北京卫星环境工程研究所 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种颗粒物电性能测试的电极测量装置，包括不保护电极、外绝缘环、被保护电极、间隔绝缘环、保护电极和力加载装置，其特征在于，不保护电极和外绝缘环之间形成用于容纳颗粒物的凹槽，凹槽空间内的颗粒物上表面上设置有由间隔绝缘环间隔开的被保护电极和保护电极，保护电极的外圆周紧靠外绝缘环的内圆周，被保护电极的上表面设置有力加载装置。本发明更适合于颗粒物质稳定测量的需要，可定量地施加载荷，颗粒致密程度和接触状态一致性更好且整个测试电极置于真空容器内部，规避了附着气体对测试测量的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 介质 颗粒 性能 测试 电极 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.颗粒物电性能测试的电极测量装置，包括不保护电极、外绝缘环、被保护电极、间隔绝缘环、保护电极和力加载装置，其特征在于，不保护电极和外绝缘环之间形成用于容纳颗粒物的凹槽，凹槽空间内的颗粒物上表面上设置有由间隔绝缘环间隔开的被保护电极和保护电极，保护电极的外圆周紧靠外绝缘环的内圆周，被保护电极的上表面设置有力加载装置。
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