[发明专利]用于介质颗粒物电性能测试的电极测量装置有效
| 申请号： | 201711382837.7 | 申请日： | 2017-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN108225986B | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 王志浩;白羽;田东波;刘宇明;丁义刚;姜海富;李蔓;马子良;刘业楠;沈自才;郎冠卿;于强;李宇;杨艳斌 | 申请（专利权）人： | 北京卫星环境工程研究所 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 介质 颗粒 性能 测试 电极 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.颗粒物电性能测试的电极测量装置，包括不保护电极、外绝缘环、被保护电极、间隔绝缘环、保护电极和力加载装置，其特征在于，不保护电极和外绝缘环之间形成用于容纳颗粒物的凹槽，凹槽空间内的颗粒物上表面上设置有由间隔绝缘环间隔开的被保护电极和保护电极，保护电极的外圆周紧靠外绝缘环的内圆周，被保护电极的上表面设置有力加载装置，所述电极测量装置置于真空容器内部。
2.如权利要求1所述的电极测量装置，其中，被保护电极、间隔绝缘环和保护电极的上表面与外绝缘环平齐。
3.如权利要求1所述的电极测量装置，其中，力加载装置根据颗粒物接触状态的需要加载指定作用力。
4.如权利要求1所述的电极测量装置，其中，外绝缘环选用高绝缘的玻璃或聚四氟乙烯材料。
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