[发明专利]射频性能测试方法、装置及可读存储介质有效
| 申请号： | 201711367859.6 | 申请日： | 2017-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN109936416B | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 詹松龄;林晓;陈军;杨亚西 | 申请（专利权）人： | 北京小米松果电子有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29 |
| 代理公司： | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人： | 魏嘉熹;南毅宁 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种射频性能测试方法、装置及可读存储介质。在该射频性能测试方法中，首先，在免授权频段建立第一UE与第二UE之间的点对点连接，接着，第一UE向该第二UE发送用于测试该第二UE的接收性能或者发射性能的测试信令，并在该免授权频段的指定频点上发射测试信号，最后，根据所接收到的测试信息，生成相应的测试结果，因此，采用上述技术方案，只需要两个用户设备即可实现对用户设备的射频性能测试，避免了在标准综测仪表无法覆盖的场景下，无法对用户设备UE进行射频性能测试的弊端，同时，保证了在ISM频段测试的有效性，此外，该方法操作较为简单，易于推广，可解决ISM频段射频性能测试的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 性能 测试 方法 装置 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种射频性能测试方法，其特征在于，应用于第一用户设备UE，所述方法包括：在免授权频段建立与第二UE之间的点对点连接；向所述第二UE发送用于测试所述第二UE的接收性能的接收性能测试信令；在所述免授权频段的第一指定频点上发射第一测试信号；接收所述第二UE发送的接收性能测试结果，所述接收性能测试结果是所述第二UE根据在所述第一指定频点上接收到的第一测试信号生成的。
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