[发明专利]一种暗角校正系统及方法有效
| 申请号： | 201711351540.4 | 申请日： | 2017-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN108111777B | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 汪舟;邓标华;欧昌东 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/243 | 分类号： | H04N5/243;H04N5/367 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 薛玲 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于图像处理技术领域，公开了一种暗角校正系统及方法，方法包括：根据多张图像获得暗角校正系数；获得测试图像并解析得到图像像素数据；根据暗角校正系数对图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据并封装输出。系统包括：第一PC端、相机、FPGA平台；相机用于拍摄获得测试图像；FPGA平台用于对测试图像进行解析获得图像像素数据；根据暗角校正系数对图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据，并封装输出；第一PC端用于根据多张图像获得暗角校正系数，对暗角校正图像数据进行显示和/或检测。本发明解决了现有技术在自动光学检测中将暗角误判为缺陷或为避免误判调整算法造成漏检缺陷的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 校正 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种暗角校正方法，其特征在于，包括以下步骤：获得N张均匀光照拍摄的图像，根据N张所述图像得到第N+1张图像，根据所述第N+1张图像获得暗角校正系数；获得测试图像，对所述测试图像进行解析，获得图像像素数据；根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据；对所述暗角校正图像数据进行封装并输出。
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