[发明专利]一种实现自动化测试缺陷管理的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201711351440.1 申请日: 2017-12-15
公开(公告)号: CN109933509A 公开(公告)日: 2019-06-25
发明(设计)人: 张敏;郝旭 申请(专利权)人: 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 张一军;涂艳
地址: 100195 北京市海淀区杏石口路6*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了实现自动化测试缺陷管理的方法和装置,涉及计算机技术领域。该方法的一具体实施方式包括:如果测试用例存在缺陷,则获取缺陷信息;调用缺陷管理录入接口,记录所述缺陷信息;待用例测试完成后,统计记录的缺陷信息。该实施方式能够解决现有技术只能由测试人员进入缺陷管理平台进行手动bug提交、追踪和管理的问题。
搜索关键词: 缺陷管理 缺陷信息 方法和装置 自动化测试 计算机技术领域 测试 用例测试 记录 调用 录入 追踪 统计 管理
【主权项】:
1.一种实现自动化测试缺陷管理的方法,其特征在于,包括:如果测试用例存在缺陷,则获取缺陷信息;调用缺陷管理录入接口,记录所述缺陷信息;待用例测试完成后,统计记录的缺陷信息。
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