[发明专利]一种通过中央处理器内部环路来校准晶体频偏的方法在审
| 申请号： | 201711322494.5 | 申请日： | 2017-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN108039886A | 公开（公告）日： | 2018-05-15 |
| 发明（设计）人： | 冯杰;张坤 | 申请（专利权）人： | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
| 主分类号： | H03L7/099 | 分类号： | H03L7/099 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种通过中央处理器内部环路来校准晶体频偏的方法，包括：中央处理器向晶体电路输出震荡激励信号；晶体电路根据震荡激励信号产生一时钟信号；内部环路通过设置在中央处理器上的一输出端口输出时钟信号；采用一频率计，频率计连接输出端口，频率计接收时钟信号并对时钟信号进行测试以得到测试结果，测试者根据测试结果判断时钟信号的偏差是否合格：若判断结果为是，随后退出；若判断结果为否，则测试者对晶体电路进行调节，随后转步骤S4。本发明的有益效果：通过CPU内部环路，把CPU的时钟信号在输出端口输出，再用频率计来对时钟进行测量，不会受到探头的影响，测量更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通过 中央处理器 内部 环路 校准 晶体 方法 | ||
【主权项】：
1.一种通过中央处理器内部环路来校准晶体频偏的方法，其特征在于，所述中央处理器包括内部环路和晶体电路；所述方法包括：步骤S1、所述中央处理器向所述晶体电路输出震荡激励信号；步骤S2、所述晶体电路根据所述震荡激励信号产生一时钟信号；步骤S3、所述内部环路通过设置在所述中央处理器上的一输出端口输出所述时钟信号；步骤S4、采用一频率计，所述频率计连接所述输出端口，所述频率计接收所述时钟信号并对所述时钟信号进行测试以得到测试结果，测试者根据所述测试结果判断所述时钟信号的偏差是否合格：若判断结果为是，随后退出；若判断结果为否，则所述测试者对所述晶体电路进行调节，随后转步骤S4。
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