[发明专利]一种FOX-7晶体表面缺陷的修饰方法有效
| 申请号： | 201711322110.X | 申请日： | 2017-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN108129247B | 公开（公告）日： | 2020-04-28 |
| 发明（设计）人： | 蔡贾林;谢虓;王德海;祝青;郑保辉 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院化工材料研究所 |
| 主分类号： | C06B25/36 | 分类号： | C06B25/36 |
| 代理公司： | 四川省成都市天策商标专利事务所 51213 | 代理人： | 刘兴亮 |
| 地址： | 621000*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FOX‑7晶体表面缺陷的修饰方法，包括：步骤A：配制键合剂溶液；步骤B：将FOX‑7晶体颗粒加入键合剂溶液中对FOX‑7预处理，并搅拌干燥；步骤C：配制氟橡胶溶液；步骤D：FOX‑7颗粒的表面填充：将步骤B得到的FOX‑7晶体颗粒加入氟橡胶填充液中，搅拌后旋转蒸发仪中真空蒸发。步骤F：FOX‑7颗粒的表面清理：将步骤D得到的FOX‑7颗粒加入乙酸丁酯溶剂配制成乙酸丁酯悬浮液，搅拌，过滤，烘干。得到表面修饰完成后的FOX‑7晶体颗粒。本发明通过采用键合剂HX‑878和氟橡胶F2311对FOX‑7晶体表面进行修饰能够有效降低FOX‑7表面的粗燥度，提高FOX‑7基PBX的工艺性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fox 晶体 表面 缺陷 修饰 方法 | ||
【主权项】：
一种FOX‑7晶体表面缺陷的修饰方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤A：键合剂溶液的配制：将键合剂溶于乙醇中配制成质量分数为5～8％的键合剂溶液；步骤B：FOX‑7的预处理：将FOX‑7晶体颗粒加入键合剂溶液中，在常温下机械搅拌使FOX‑7悬浮于键合剂溶液中，搅拌时间30～40min,搅拌完成后，过滤得到FOX‑7颗粒，并在50～60℃下将颗粒烘干2h；步骤C：氟橡胶填充液的配制：将氟橡胶溶于乙酸乙酯中，配制成质量含量为6～10％的氟橡胶溶液；步骤D：FOX‑7颗粒的表面填充：将步骤B得到的FOX‑7晶体颗粒加入氟橡胶填充液中，在常温下机械搅拌1～1.5h然后将FOX‑7的悬浮液加入旋转蒸发仪中，在真空条件下旋转蒸发20～25min；步骤F：FOX‑7颗粒的表面清理：将步骤D得到的FOX‑7颗粒加入乙酸丁酯溶剂配制成质量含量为10～15％的乙酸丁酯悬浮液，在常温下机械搅拌10min。过滤得到FOX‑7晶体颗粒，然后将颗粒在60～70℃下将颗粒烘干2～3h。即得到表面修饰完成后的FOX‑7晶体颗粒。
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