[发明专利]一种测量薄膜张力与变形关系的测量平台及测量方法有效
| 申请号： | 201711268179.9 | 申请日： | 2017-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN108106951B | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 管世民;张海;卜俊峰 | 申请（专利权）人： | 彩虹无人机科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/28 | 分类号： | G01N3/28;G01N3/04 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 马全亮 |
| 地址： | 065599*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 一种测量薄膜张力与变形关系的测量平台及测量方法，平台包括：基台、薄膜固定组件、拉伸调节组件和测量组件；基台的安装台面为矩形框结构，拉伸调节组件和测量组件均固定安装在所述矩形框结构上，薄膜固定组件安装在拉伸调节组件上，薄膜固定组件用于薄膜的固定，拉伸调节组件用于调整薄膜固定组件的位置，进而调节薄膜的变形，测量组件用于测量出薄膜固定组件的位移量和薄膜变形量，进而得到薄膜张力与变形之间的关系。基于该平台，还提出了该平台的具体测量方法。该平台可用于薄膜面内横向和纵向两个独立受载时的变形，还可以测量薄膜面内和面外方向独立受载时薄膜的变形量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 薄膜 张力 变形 关系 平台 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量薄膜张力与变形关系的测量平台，其特征在于包括：基台(1)、薄膜固定组件、拉伸调节组件和测量组件；基台(1)的安装台面为矩形框结构，拉伸调节组件和测量组件均固定安装在所述矩形框结构上，薄膜固定组件安装在拉伸调节组件上，薄膜固定组件用于薄膜的固定，拉伸调节组件用于调整薄膜固定组件的位置，进而调节薄膜的变形，测量组件用于测量出薄膜固定组件的位移量和薄膜变形量，进而得到薄膜张力与变形之间的关系。
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