[发明专利]一种直扩应答机基带处理器片上功能自检测方法及系统有效
| 申请号： | 201711267258.8 | 申请日： | 2017-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN108234039B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 李梦良;魏星;谢应辉;乐立鹏 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | H04B17/20 | 分类号： | H04B17/20 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 庞静 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种直扩应答机基带处理器片上功能自检测方法及系统：初始化芯片中应答机基带处理部分；产生信息序列；将信息比特与P路伪随机序列进行扩频调制；对扩频后的P路比特序列进行BPSK调制；将P路BPSK信号合路，得到的测试激励送应答机基带处理部分；将应答机基带处理部分解调出的P路二进制信息比特分别送P个测试输出管脚输出。本发明利用芯片内嵌电路来产生被测电路的输入激励和控制信号，输出监测信号判读简单，解决了直扩应答机基带处理器在封装后功能检测成本高、效率低、对测试人员能力要求高的问题，在不需要其他复杂测试设备和器件的情况下，可以快速完成对芯片功能的正确性检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应答 基带 处理器 功能 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种直扩应答机基带处理器片上功能自检测方法，其特征在于包括下列步骤：(1)初始化芯片中应答机基带处理部分，为应答机基带处理部分配置P路伪随机码序列；(2)产生自检信息序列；(3)将步骤(2)中的信息序列与P路伪随机序列进行扩频调制，得到扩频后的P路比特序列；(4)对扩频后的P路比特序列进行BPSK调制，得到P路BPSK信号；(5)将P路BPSK信号合路，得到的测试激励送应答机基带处理部分；(6)将应答机基带处理部分解调出的P路二进制信息比特分别送P个测试输出管脚输出；如果管脚输出的信息和步骤(2)中自检信息序列的比特波形一致，则芯片功能自检通过；否则，芯片功能自检失败。
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