[发明专利]一种多线激光轮廓扫描传感器全局校准方法有效
申请号: | 201711227578.0 | 申请日: | 2017-11-29 |
公开(公告)号: | CN108151667B | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 毛宏勇;范卓;姜勇 | 申请(专利权)人: | 中国船舶重工集团公司第七一九研究所 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 武汉天力专利事务所 42208 | 代理人: | 吴晓颖 |
地址: | 430205 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明属于视觉检测技术领域,具体涉及一种多线激光轮廓扫描传感器全局校准方法。使用基于三维标靶的校准方法,对空间分布且无共同视场的线扫描传感器实现一次性快速全局校准,不需要将标靶摆放多次,相比于传统的一维标靶和二维标靶,校准效率提高60%‑70%,另外校准用算法与标靶的位置和尺寸公差无关,只与标靶特征面的平面度相关,大大降低了三维标靶的加工难度,在保证校准效率和高精度的情况下降低了三维标靶的造价。 | ||
搜索关键词: | 一种 激光 轮廓 扫描 传感器 全局 校准 方法 | ||
【主权项】:
一种多线激光轮廓扫描传感器全局校准方法,其特征在于该方法包括以下步骤:(1)待校准在线测量系统由i个一体式线激光轮廓扫描传感器构成一个测量单元;i个传感器呈空间分布,无共同视场;(2)校准用标靶为三维立体标靶,标靶对应每个传感器的视场中都有j个特征面;标靶加工完成后对特征面进行三坐标扫描,以获取带有标靶表面特征的点云数据;(3)通过对步骤(2)中的点云进行最优化拟合,重建标靶特征面的几何信息;(4)OWXWYWZW为系统的全局测量坐标系,位于三维标靶上,OiXiYiZi为传感器i的局部测量坐标系,通过几何属性工具,可以获取各个传感器对应特征面在坐标系OWXWYWZW中的数学描述;空间平面f的数学描述为Ax+By+Cz+D=0,平面f的向量表示为f=[A B C D];将三维标靶放置于测量系统中,传感器i截取标靶上的对应特征面,定义数据点集矩阵Pi‑j=[xi‑j 0 zi‑j],
每个点集都有其对应的特征面;定义Pi=[Pi‑1 Pi‑2 … Pi‑j],为传感器i的数据点集在其局部测量坐标系OiXiYiZi下的坐标矩阵,定义fi={fi‑1,fi‑2,…,fi‑j},为传感器i的特征面集合,标靶的特殊外形保证了Pi与fi在坐标系OWXWYWZW下配准存在唯一性;定义Tmi‑W为传感器i局部测量坐标系OiXiYiZi到全局测量坐标系OWXWYWZW的变换矩阵,![]()
Ri‑w为OiXiYiZi到OWXWYWZW的旋转矩阵,
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