[发明专利]分析装置、计算机可读存储介质和分析方法有效
申请号: | 201711212784.4 | 申请日: | 2017-11-28 |
公开(公告)号: | CN108226064B | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 涩谷享司;福城显辅;太田敏雄;西村克美 | 申请(专利权)人: | 株式会社堀场制作所 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 周善来;李雪春 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供利用光吸收的分析装置、计算机可读存储介质和分析方法,能通过简单计算且能排除光源强度的变动和其它物质的干扰影响等地高精度地测定测定对象成分的吸光度或浓度。分析装置包括:光源(2),射出用规定的调制频率对波长进行了调制的参考光;光检测器(3),检测作为参考光透过测定对象成分后的光的测定对象光的强度和参考光的强度;第一计算部(61),计算作为测定对象光的强度与参考光的强度之比的对数的强度比对数;频率成分抽出部(62),用具有调制频率的n倍(n为1以上的整数)的频率的参照信号对强度比对数进行锁定检测;及第二计算部(63),根据频率成分抽出部(62)的检测结果,计算测定对象成分的浓度或吸光度。 | ||
搜索关键词: | 分析 装置 计算机 可读 存储 介质 方法 | ||
【主权项】:
1.一种分析装置,其分析试样中所含的测定对象成分,所述分析装置的特征在于,所述分析装置包括:光源,射出参考光,所述参考光是用规定的调制频率对波长进行了调制的光;光检测器,检测测定对象光的强度和所述参考光的强度,所述测定对象光是所述参考光透过所述试样后的光;第一计算部,计算强度比对数,所述强度比对数是所述测定对象光的强度与所述参考光的强度之比的对数;频率成分抽出部,从所述强度比对数抽出所述调制频率的n倍的频率成分,n为1以上的整数;以及第二计算部,根据所述频率成分抽出部的频率成分的抽出结果,计算所述测定对象成分的浓度或吸光度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社堀场制作所,未经株式会社堀场制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711212784.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。