[发明专利]一种太赫兹时域光谱测量系统有效

专利信息
申请号: 201711212601.9 申请日: 2017-11-28
公开(公告)号: CN108007897B 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 袁英豪;杨建强;李超;熊波涛;周正;陈师雄 申请(专利权)人: 湖北久之洋红外系统股份有限公司
主分类号: G01N21/3586 分类号: G01N21/3586
代理公司: 武汉凌达知识产权事务所(特殊普通合伙) 42221 代理人: 刘念涛;宋国荣
地址: 430223 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种太赫兹时域光谱测量系统,包括飞秒激光系统、太赫兹发射装置、太赫兹探测装置、样品测量装置和延时扫描装置,所述飞秒激光系统输出泵浦激光和探测激光,分别传输给太赫兹发射装置和太赫兹探测装置,产生和探测太赫兹波,所述的太赫兹探测装置接收太赫兹波束并将其转化为电压信号,所述的样品测量装置位于太赫兹光路中,控制太赫兹波束入射样品,所述的延迟扫描装置改变太赫兹波束在太赫兹发射装置和太赫兹探测装置之间的传播光程;本发明可显著降低延时扫描装置中对光学反射面粗糙度和运动机构稳定性的苛刻要求、减小光路装调难度、大幅度缩减太赫兹时域光谱测量系统的器件成本。
搜索关键词: 一种 赫兹 时域 光谱 测量 系统
【主权项】:
1.一种太赫兹时域光谱测量系统,其特征在于:包括飞秒激光系统(1)、太赫兹发射装置(2)、太赫兹探测装置(3)、样品测量装置(4)和延时扫描装置(5),所述飞秒激光系统(1)输出两束重复频率相同、相对延时固定的泵浦激光和探测激光,分别通过光纤或自由空间光路形式传输给太赫兹发射装置(2)和太赫兹探测装置(3),用于产生和探测太赫兹波,所述的太赫兹探测装置(3)接收输入的平行太赫兹波束,并将其转化为可直接探测的电压信号,所述的样品测量装置(4)位于太赫兹光路中,用于夹持待测样品,并控制太赫兹波束以透射式或反射式、聚焦入射或平行入射的方式入射样品,所述的延迟扫描装置(5)位于太赫兹光路中,用于线性、周期性的改变太赫兹波束在太赫兹发射装置(2)和太赫兹探测装置(3)之间的传播光程。
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