[发明专利]超声波斜探头检测用DAC基准曲线的制作方法

摘要

一种超声波斜探头检测用DAC基准曲线的制作方法，包括以下步骤制作转换块，将转换块放置在所述平底孔试块的入射面上形成组合试块；使用斜探头检测上述组合试块的缺陷时，在超声波设备上采集生成表征该类型缺陷及缺陷的位置的最高回波点；更换平底孔试块，再利用斜探头检测得到表征所以类型缺陷及缺陷的位置的DAC基准曲线，本发明中将转换块作为通用件，需要直探头检测时，使用平底孔试块即可，需要斜探头检测时，使用转换块与平底孔试块的组合即可，无需单独制作具有斜面的平底孔试块。

主权项

一种超声波斜探头检测用DAC基准曲线的制作方法，其特征在于包括以下步骤：制作转换块，将转换块放置在平底孔试块的入射面上形成组合试块，转换块具有倾斜设置的光滑水平的表面作为斜探头超声波入射面，转换块的入射面的入射角与斜探头的折射角角度相等，转换块还具有水平底面，以与平底孔试块的顶面平面接触，所述平底孔试块具有光滑水平的表面作为直探头超声波入射面，平底孔试块的光滑水平表面与转换块的水平底面接触，在平底孔试块的底部设置用于模拟铸件各种类型缺陷的平底孔，若干平底孔试块的平底孔的深度相同或不同，进而由若干平底孔试块底部的平底孔模拟被检测铸件内部的各种类型缺陷及缺陷的位置；使用斜探头检测上述组合试块的缺陷时，将斜探头放置在转换块的入射面上，通过斜探头发出的超声波检测组合试块中的平底孔试块底部的平底孔，在超声波设备上采集生成表征该类型缺陷及缺陷的位置的最高回波点；更换平底孔试块，形成转换块与其他平底孔试块形成的组合试块，再利用斜探头检测该组合试块中的平底孔试块底部的平底孔，在超声波设备上采集生成表征该类型缺陷及缺陷的位置的最高回波点，以此类推，将每个平底孔试块与转换块组合后分别检测平底孔，在超声波设备上采集生成表征所以类型缺陷及缺陷的位置的最高回波点，依次连接最高回波的点，即可得到一条斜探头检测用DAC基准曲线。