[发明专利]一种紫外LED器件测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 201711201102.X | 申请日： | 2017-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN108107335A | 公开（公告）日： | 2018-06-01 |
| 发明（设计）人： | 夏正浩;张康;罗明浩;王波;陈美琴;闵海;林威 | 申请（专利权）人： | 中山市光圣半导体科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/01;G01M11/02 |
| 代理公司： | 中山市科创专利代理有限公司 44211 | 代理人： | 胡犇 |
| 地址： | 528400 广东省中山市古镇*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开紫外LED器件测试装置，包括能分别与测试台紧密连接而罩住紫外LED器件的第一荧光罩和第二荧光罩，第一荧光罩与第二荧光罩的激发谱和发射谱均不相同；能测出从第一荧光罩和第二荧光罩射出光的光参数的光参数测试仪。本发明还公开采用上述测试装置的测试方法，包括如下主要步骤：A：第一荧光罩罩住紫外LED器件；B：测第一荧光罩射出光的光功率P1；C：断电并将第二荧光罩罩住紫外LED器件；D：测第二荧光罩射出光的光功率P2；E：根据激发谱及P1/R1＝P2/R2、W2＝W3确定紫外LED器件波长W1，R1为第一荧光罩在波长值为W2时的激发响应度，R2为第二荧光罩在波长值为W3时的激发响应度。本测试装置操作方便，采用本发明测试方法不会对人体造成伤害。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光罩 紫外LED器件 测试装置 射出光 波长 罩住 光功率 激发谱 响应度 测试 光参数测试仪 紧密连接 测试台 发射谱 光参数 激发 断电 伤害 | ||
【主权项】：
1.一种紫外LED器件测试装置，其特征在于：包括：用于夹持安装紫外LED器件(10)的测试台(1)；能分别与测试台(1)紧密连接而罩住紫外LED器件(10)的第一荧光罩(2)和第二荧光罩(3)，并且第一荧光罩(2)与第二荧光罩(3)的激发谱和发射谱均不相同；能测出从第一荧光罩(2)和第二荧光罩(3)射出光的光参数的光参数测试仪(4)；与测试台(1)连接而能测出紫外LED器件(10)的电参数的电参数测试仪(5)；所述的紫外LED器件(10)包括紫外LED外延片或紫外LED芯片或紫外LED封装芯片或紫外LED灯，所述的紫外LED器件(10)的波长为200nm至400nm，所述的第一荧光罩(2)和第二荧光罩(3)的发射主波长范围分别为400nm至780nm，所述的第一荧光罩(2)和第二荧光罩(3)采用的荧光粉包括硅酸盐、铝酸盐、氮化物或氧化物。
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