[发明专利]一种自由曲面的检测方法在审
| 申请号： | 201711148520.7 | 申请日： | 2017-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN107941471A | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 汪际军 | 申请（专利权）人： | 全普光电科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01B21/20;G01B11/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200000 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种自由曲面的检测方法，包括提供一测试结构；测试结构具有光学自由曲面；获取光学自由曲面的中心位置；在光学自由曲面上划出多条曲线，以中心位置作为坐标原点，建立三维坐标系，获取多条曲线的曲线坐标数据；根据曲线坐标数据，拟合出模拟曲面；将模拟曲面和理论光学自由曲面进行比较，得到光学自由曲面的面形误差值。本发明实现了对光学自由曲面的有效测量，提高了检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自由 曲面 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种光学自由曲面的检测方法，其特征在于，包括：步骤01：提供一测试结构；测试结构具有光学自由曲面；步骤02：获取光学自由曲面的中心位置；步骤03：在光学自由曲面上划出多条曲线，以所述中心位置作为坐标原点，建立三维坐标系，获取多条曲线的曲线坐标数据；步骤04：根据所述曲线坐标数据，拟合出模拟曲面；步骤05：将模拟曲面和理论光学自由曲面进行比较，得到光学自由曲面的面形误差值。
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