[发明专利]一种阵列天线一维方向图的副瓣电平计算方法在审

专利信息
申请号: 201711113962.8 申请日: 2017-11-13
公开(公告)号: CN107908859A 公开(公告)日: 2018-04-13
发明(设计)人: 蒋忠进;崔铁军;陈阳阳 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙)32204 代理人: 王安琪
地址: 210088 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种阵列天线一维方向图的副瓣电平计算方法,首先确定方向图的主瓣峰值,然后采用双向差分算法,向左和向右分别搜索主瓣左右方第一零点或拐点,确定主瓣位置;搜索主瓣左边副瓣区和右边副瓣区的最高副瓣电平,作为方向图的副瓣电平。与传统算法相比,该算法实现的复杂度较低,需要的计算量和内存消耗很小;除此之外,该算法能够很好处理方向图主瓣和副瓣融合在一起的情况,能识别方向图主瓣中的拐点,使副瓣电平计算得更加可靠和准确。
搜索关键词: 一种 阵列 天线 方向 电平 计算方法
【主权项】:
一种阵列天线一维方向图的副瓣电平计算方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)针对阵列天线一维方向图E,搜索方向图最大值,即主瓣峰值,记为E(p),此处p表示主瓣峰值的坐标;为方向图E建立对应的差分数组D,E与D长度都为N,相同位置的方向性值和差分值具有对应关系,将E(p)对应的差分值D(p)置为0;(2)搜索主瓣峰值左边第一个零点或者拐点,其坐标记为lC,然后搜索lC点左边区间(1~lC)中的最大值,作为主瓣左边区域的副瓣电平值,记为SL;(3)搜索主瓣峰值右边第一个零点或者拐点,其坐标记为rC,然后搜索rC点右边区间(rC~N)中的最大值,作为主瓣右边区域的副瓣电平值,记为SR;(4)将SL和SR进行比较,选择其中较大的一个,作为整个一维方向图的副瓣电平,作为结果进行输出。
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