[发明专利]一种非制冷光电探测器相对光谱响应温度特性校准方法

摘要

本发明提供一种非制冷光电探测器相对光谱响应温度特性校准方法，在单色仪的输出口用离轴光学系统将单色光汇聚到真空控温系统中，在真空控温系统内由标准探测器接收。探测器的输出信号经过放大后送入数据采集系统，控制器控制单色仪输出波长的改变。测量时先将标准探测器置真空控温系统中进行校准，然后通过精密位移旋转台，移去标准探测器，并将被测探测器旋转到相同的位置上，等真空系统到设定状态后，再将变温箱设置在不同的温度下，等温度稳定后，进行不同温度下的非制冷光电探测器相对光谱响应测量。采用上述方案，既避免当单色光照射到被测红外探测器上，当周围温度升高或降低时非制冷光电探测器表面会结霜和产生水汽的干扰。

主权项

一种非制冷光电探测器相对光谱响应温度特性校准方法，其特征在于，包括光源、单色仪、真空控温系统、标准探测器、数据采集、精密位移旋转台和控制系统；宽带光源经过单色仪(12)后由聚焦光学系统进行聚焦，经过单色仪分光(13)后,再经过离轴光学系统将单色光聚焦到真空控温系统中,在真空控温系统内由标准探测器(或被测探测器)接收；标准探测器和若干个被测探测器被固定在精密旋转台上，被测探测器的输出信号经过放大后送入数据采集系统，控制器控制单色仪(13)输出波长的改变；测量时在常温下先将标准探测器置于真空控温系统中进行校准，然后通过精密位移旋转台，移去标准探测器，并将被测探测器旋转到相同的位置上，等真空控温系统到设定状态后，再将真空控温系统设置在不同的温度下，等温度稳定后，进行不同温度下的非制冷光电探测器相对光谱响应测量；测量方程为：sx(λ)=KVx-Vd,xVs-Vd,sss(λ)---(1)]]>公式中：sx(λ)——被测探测器的相对光谱响应；K——将sx(λ)的最大值调整为1的归一化常数；Vx，Vd,x——被测探测器的输出信号和暗信号；Vs，Vd,s——标准探测器的输出信号和暗信号；ss(λ)——标准探测器的相对光谱响应。