[发明专利]一种非制冷光电探测器相对光谱响应温度特性校准方法

权利要求书

1.一种非制冷光电探测器相对光谱响应温度特性校准方法，其特征在于，包括光源、单色仪、真空控温系统、标准探测器、数据采集、精密位移旋转台和控制系统；宽带光源经过单色仪(12)后由聚焦光学系统进行聚焦，经过单色仪分光(13)后,再经过离轴光学系统将单色光聚焦到真空控温系统中,在真空控温系统内由标准探测器(或被测探测器)接收；标准探测器和若干个被测探测器被固定在精密旋转台上，被测探测器的输出信号经过放大后送入数据采集系统，控制器控制单色仪(13)输出波长的改变；测量时在常温下先将标准探测器置于真空控温系统中进行校准，然后通过精密位移旋转台，移去标准探测器，并将被测探测器旋转到相同的位置上，等真空控温系统到设定状态后，再将真空控温系统设置在不同的温度下，等温度稳定后，进行不同温度下的非制冷光电探测器相对光谱响应测量；测量方程为：

sx(λ)=KVx-Vd,xVs-Vd,sss(λ)---(1)]]>

公式中：s_x(λ)——被测探测器的相对光谱响应；

K——将s_x(λ)的最大值调整为1的归一化常数；

V_x，V_d,x——被测探测器的输出信号和暗信号；

V_s，V_d,s——标准探测器的输出信号和暗信号；

s_s(λ)——标准探测器的相对光谱响应。

2.如权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述光源采用卤素灯和硅碳棒；标准探测器采用的是热释电探测器；真空控温系统包含：真空室系统和热沉系统；控制系统的窗口材料选用的是氟化钙和硒化锌。

3.如权利要求2所述的校准方法，其特征在于，所述氟化钙窗口透射波长范围为0.25μm～7μm,窗口直径为50mm,厚度为8mm,在整个波长范围内透射率可以达到85％以上。

4.如权利要求2所述的校准方法，其特征在于，所述硒化锌窗口透射范围为3μm～12μm,窗口直径为50mm,厚度为8mm,在整个波长范围内透射率可以达到85％以上。

5.如权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述精密位移旋转台上安装标准探测器和被测非制冷光电探测器。