[发明专利]非均匀采样正弦波形失真度的确定方法有效

专利信息
申请号: 201711101376.1 申请日: 2017-11-09
公开(公告)号: CN108414001B 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 梁志国 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02;G01D11/00;G01R13/00
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 梁瑞林
地址: 100095 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于无线电计量测试技术领域,涉及一种非均匀采样正弦波形失真度的确定方法。其特征在于,波形失真度补偿的步骤如下:整数周期截取;标定采样时刻;确定采样正弦波形的理论函数;非均匀采样序列波形拟合;计算εi的加权值wi;计算加权修正的拟合残差有效值计算非均匀采样正弦波形失真度η。本发明提出了一种非均匀采样正弦波形失真度的确定方法,能够消除由于拼接不完善导致的非均匀采样效应造成的采样序列的失真增大,保证了正弦波形失真度分析的准确性。
搜索关键词: 均匀 采样 正弦 波形 失真度 确定 方法
【主权项】:
1.非均匀采样正弦波形失真度的确定方法,通过非均匀采样采集实际正弦波采样序列yi,实际正弦波采样序列yi中每个采样值的设定采样时刻为ti;其特征在于,波形失真度补偿的步骤如下:1.1、整数周期截取:将实际正弦波采样序列yi进行数据序列截取,使其恰好含有整数个正弦周期,i是采样值的序列号,i=0,1,…,n‑1;1.2、标定采样时刻:对截取后的实际正弦波采样序列yi中的每个采样值的设定采样时刻ti进行精确标定,即:用实测采样时刻ti′取代每个采样值的设定采样时刻ti;将不含有实测采样时刻的实际采样序列yi转化成同时含有幅度信息和实测采样时刻的双坐标采样序列(yi,ti′);1.3、确定采样正弦波形的理论函数:采样正弦波形的理论函数为:y(t)=Ecos(2πft+Φ)+Q  [1]式中,E是正弦波形幅度;Φ是初始相位角;f为正弦波形频率;Q是叠加到正弦波形信号上的直流分量1.4、非均匀采样序列波形拟合:使用同时含有幅度信息和实测采样时刻的双坐标采样序列(yi,ti′)进行正弦曲线拟合,使公式[2]所述残差平方和ε最小,获得采样正弦波形的包括幅度、频率、相位、直流分量及拟合回归残差;式中,A为正弦波形幅度E的拟合值,f为正弦波形频率拟合值,θ为正弦波形初始相位角Φ的拟合值,C为叠加到正弦波形信号上的直流分量Q的拟合值;由式[2]的ε最小,获得拟合函数拟合残差有效值ρ为:拟合残差εi为:至此,获得拟合参数A、f、θ、C,得到正弦波形周期为T=1/f;1.5、计算εi的加权值wi:依照实际正弦波采样序列yi中每个采样点所在实测采样时刻ti′的前后采样时刻差,按照下式计算出该采样点的加权值wi;1.6、计算加权修正的拟合残差有效值1.7、计算非均匀采样正弦波形失真度η:至此,完成非均匀采样正弦波形失真度的确定。
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