[发明专利]使用磁传感器的多维测量以及相关系统、方法和集成电路有效
申请号: | 201711066871.3 | 申请日: | 2017-11-03 |
公开(公告)号: | CN108020150B | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | J·施密特 | 申请(专利权)人: | 亚德诺半导体集团 |
主分类号: | G01B7/00 | 分类号: | G01B7/00;G01R33/00 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 周阳君 |
地址: | 百慕大群岛(*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本申请涉及使用磁传感器的多维测量以及相关系统、方法和集成电路。本公开尤其描述了使用3维(3D)磁传感器来检测磁性靶的位置的装置、系统和方法的实施方案。通过使用3D磁传感器,可以使用这种磁传感器的两维阵列来确定磁性靶的3D位置。 | ||
搜索关键词: | 使用 传感器 多维 测量 以及 相关 系统 方法 集成电路 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测磁性靶的位置的系统,所述系统包括:磁传感器集成电路(IC)阵列,其中所述阵列的第一磁传感器IC包括至少三个第一磁传感元件和一个或多个第一输出触点,所述第一输出触点被配置为提供指示磁性靶的三维(3D)位置的第一信息,并且其中所述阵列的第二磁传感器IC包括至少三个第二磁传感元件和一个或多个第二输出触点,所述第二输出触点被配置为提供指示磁性靶的3D位置的第二信息;和计算电路,被配置为基于所述第一信息和第二信息输出位于阵列附近的磁性靶的3D位置信息。
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