[发明专利]一种基于稀疏表示的正电子发射断层图像超分辨率重建方法在审

专利信息
申请号: 201711060783.2 申请日: 2017-11-01
公开(公告)号: CN107818546A 公开(公告)日: 2018-03-20
发明(设计)人: 康家银 申请(专利权)人: 淮海工学院
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40
代理公司: 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙)11548 代理人: 李静
地址: 222005 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及图像处理技术领域,尤其是一种基于稀疏表示的正电子发射断层图像超分辨率重建方法,该方法包括建立基于稀疏表示的正电子发射断层图像超分辨率的全局模型、建立基于稀疏表示的正电子发射断层图像超分辨率的局部模型、全局重建的约束增强和全局优化四个具体步骤。本发明方法可以降低计算成本、提高图像质量,对噪声具有自适应鲁棒性。
搜索关键词: 一种 基于 稀疏 表示 正电子 发射 断层 图像 分辨率 重建 方法
【主权项】:
一种基于稀疏表示的正电子发射断层图像超分辨率重建方法,其特征在于,包括下述步骤:步骤一:建立基于稀疏表示的正电子发射断层图像超分辨率的全局模型:Y=SHX,式中H表示模糊滤波器,S表示采样算子,X表示高分辨率图像,Y表示低分辨率图像;步骤二:建立基于稀疏表示的正电子发射断层图像超分辨率的局部模型:min||α||0 δ.t.||FD ι α‑Fy||22≤ε,式中F为线性特征提取算子;min||α||1 δ.t.||FD ι α‑Fy||22≤ε;式中λ是为了平衡一定的稀释度和对y估计的精确度;min||α||1 δ.t.||FD ι α‑Fy||22≤ε1,||PDh α‑ω||22≤ε2;式中步骤三:全局重建的约束增强:式中X0是由原始图像通过稀疏表示得到的高分辨率图像,并将X0投影到SHX=Y的解空间;步骤四:全局优化:式中αi,j表示X(i,j)图像块的投影矩阵,ρ(X)是编码高分辨率图像额外先验知识的惩罚函数。
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