[发明专利]一种CMOS工艺单片机80C196辐射效应的在线测试系统和方法

摘要

为了解决单片机80C196结构功能复杂而外部引脚有限，导致辐射效应测试难以覆盖单片机80C196所有内部功能模块的技术难题，本发明提供了一种CMOS工艺单片机80C196辐射效应的在线测试系统和方法。首先对待测单片机80C196进行功能模块划分，每个功能模块都有相应的电参数或功能参数进行表征，以监测每个功能模块的工作状态；再通过对各个功能模块的电参数和功能参数的诊断分析，将辐射效应导致的单片机80C196电参数和功能失效定义到单片机的内部功能模块。本发明能够满足单片机80C196辐射效应的测试需求。

主权项

一种CMOS工艺单片机80C196辐射效应的在线测试系统，其特征在于，包括：待测80C196，用于对其内部各功能模块进行配置、测试和数据上传；电源，用于向待测80C196、外部程序存储器以及地址锁存器提供电压输入，同时为待测80C196提供AD转换的参考电压；晶振，用于为待测80C196内部的时钟发生器提供时钟输入，经时钟发生器二分频后输出待测80C196工作的时钟基准信号；复位电路，用于为待测80C196提供可靠的硬件复位；地址锁存器，用于实时锁存待测80C196的总线所发送的低8位的地址，地址锁存器的输入与待测80C196总线的低8位相连，地址锁存器的输出与外部程序存储器的地址线的低8位相连，地址锁存器的锁存使能端LE与待测80C196的地址锁存信号ALE相连；外部程序存储器，用于存储待测80C196的程序指令，外部程序存储器的读使能端OE与待测80C196的读信号RD相连；串行通信电路，用于实现待测80C196和上位机之间的通信；万用表，与待测80C196的电源输入端相连，用于测试待测80C196的功耗电流；示波器，其输入与待测80C196的输出相连，用于观测待测80C196的电参数和功能参数的变化；所述电参数和功能参数包括时钟、读信号、写信号、地址锁存信号、PWM输出、IO输出、定时器溢出周期；上位机，通过串行通信电路与待测80C196相连，用于向待测80C196发送工作指令，选定单片机的工作模式，包括正常模式、待机模式和掉电模式三种；用于发送复位指令使单片机复位重启；用于观测待测80C196的功能参数的变化；所述功能参数包括AD转换数据、内部RAM数据、CPU运算和逻辑指令功能。