[发明专利]一种文物无损检测装置在审

专利信息
申请号: 201710962854.1 申请日: 2017-10-17
公开(公告)号: CN107976408A 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 张立福;史宁昌;雷勇;孙雪剑;张红明;曲亮;李光华;杨杭 申请(专利权)人: 中国科学院遥感与数字地球研究所;故宫博物院
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司11002 代理人: 王莹,吴欢燕
地址: 100101 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种文物无损检测装置,所述装置包括高光谱获取单元和高光谱分析单元;所述高光谱获取单元与高光谱分析单元电连接;其中,所述高光谱获取单元包括一维高光谱获取子单元和二维扫描平台子单元;所述一维高光谱获取子单元用于获取一维文物高光谱数据;所述二维扫描平台子单元用于带动所述一维高光谱获取子单元平移,将所述一维文物高光谱数据组合成二维文物高光谱数据;所述高光谱分析单元用于分析所述二维文物高光谱数据。本发明提供的一种文物无损检测装置,获取文物高光谱数据并对此进行分析,为文物领域工作人员提供了一种智能的文物无损检测方案,提高了文物检测的可靠性和准确性,降低了文物毁损的可能性。
搜索关键词: 一种 文物 无损 检测 装置
【主权项】:
一种文物无损检测装置,其特征在于,包括高光谱获取单元和高光谱分析单元;所述高光谱获取单元与高光谱分析单元电连接;其中,所述高光谱获取单元包括一维高光谱获取子单元和二维扫描平台子单元;所述一维高光谱获取子单元用于获取一维文物高光谱数据;所述二维扫描平台子单元用于带动所述一维高光谱获取子单元平移,将所述一维文物高光谱数据组合成二维文物高光谱数据;所述高光谱分析单元用于分析所述二维文物高光谱数据。
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