[发明专利]信息推送方法、装置和电子设备有效
申请号: | 201710945531.1 | 申请日: | 2017-10-12 |
公开(公告)号: | CN109656803B | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 陈磊;贾瑞卿;牛锋华;郭琳琳 | 申请(专利权)人: | 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06K9/62;H04L67/55 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人: | 王达佐;马晓亚 |
地址: | 100080 北京市海淀区杏石口路6*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请实施例公开了信息推送方法、装置和电子设备。该方法的一具体实施方式包括:获取软件项目对应的、已发生的多个缺陷中各个缺陷的缺陷发生时间的信息和缺陷解决时间的信息;基于多个缺陷中各个缺陷的缺陷发生时间和缺陷解决时间确定统计缺陷的统计参数;基于统计参数分别与预设第一聚类中心和第二聚类中心之间的距离确定逾期信息,其中,第一聚类中心为表征不逾期的聚类中心,第二聚类中心为表征逾期的聚类中心,逾期信息用于指示软件项目开发是否逾期;以及向用户推送逾期信息。该实施方式可以在软件项目开发的多个时段内确定软件项目的逾期信息,来指导软件项目开发资源的调整以确保软件项目按时完成,避免由于软件项目逾期造成的经济损失。 | ||
搜索关键词: | 信息 推送 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】:
1.一种信息推送方法,其特征在于,所述方法包括:获取软件项目对应的、已发生的多个缺陷中各个缺陷的缺陷发生时间的信息和缺陷解决时间的信息;基于所述多个缺陷中各个缺陷的缺陷发生时间和缺陷解决时间确定统计缺陷的统计参数;基于所述统计参数分别与预设第一聚类中心和第二聚类中心之间的距离确定逾期信息,其中,所述第一聚类中心为表征不逾期的聚类中心,所述第二聚类中心为表征逾期的聚类中心,所述逾期信息用于指示所述软件项目开发是否逾期;以及向用户推送所述逾期信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司,未经北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710945531.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录设备、信息再现方法和信息再现设备
- 信息记录装置、信息记录方法、信息记录介质、信息复制装置和信息复制方法
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录设备、信息重放设备、信息记录方法、信息重放方法、以及信息记录介质
- 信息存储介质、信息记录方法、信息重放方法、信息记录设备、以及信息重放设备
- 信息存储介质、信息记录方法、信息回放方法、信息记录设备和信息回放设备
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录装置、信息再现方法和信息再现装置
- 信息终端,信息终端的信息呈现方法和信息呈现程序
- 信息创建、信息发送方法及信息创建、信息发送装置