[发明专利]一种提升三层忆阻器写性能的编解码方法有效

专利信息
申请号: 201710945046.4 申请日: 2017-10-12
公开(公告)号: CN107622781B 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 童薇;冯丹;刘景宁;徐洁;李春艳 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G11C13/00 分类号: G11C13/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 廖盈春;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种提升三层忆阻器写性能的编解码方法,属于数据编解码技术领域。本发明编码方法包括:将写入的缓存行数据使用FPC压缩算法进行压缩;再根据压缩以后的缓存行数据大小计算压缩率;之后根据缓存行数据的压缩率选择IDM编码方式进行编码;最后将IDM编码后的数据写入到TLC RRAM单元中。本发明解码方法包括:从TLC RRAM单元中读出IDM标志单元、压缩标志位和缓存行数据;再根据IDM编码标志单元确定IDM解码的方式进行解码;最后根据压缩标志位对缓存行数据执行解压缩,最终得到8个解压缩的字,组合在一起即为解压缩以后的缓存行数据。本发明方法将FPC压缩技术和IDM编码结合在一起,很好的提升TLC RRAM的写性能,同时该方法的解码延迟及开销都很小。
搜索关键词: 一种 提升 三层 忆阻器写 性能 解码 方法
【主权项】:
一种提升三层忆阻器写性能的编解码方法,其特征在于,所述编码方法包括:(1)将写入的缓存行数据使用压缩算法进行压缩;(2)根据压缩以后的缓存行数据大小计算压缩率;(3)若压缩率小于压缩阈值,则不对数据进行IDM编码,否则根据具体的压缩率确定数据使用IDM编码的方式;(4)将使用IDM编码后的数据或没有使用IDM编码的数据写入到TLC RRAM单元中。
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