[发明专利]膜层检测方法、装置及膜层检测系统有效
| 申请号： | 201710902942.2 | 申请日： | 2017-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN107727654B | 公开（公告）日： | 2019-12-24 |
| 发明（设计）人： | 安亚斌;张铁轶;權基瑛;闫小宝;李彦生 | 申请（专利权）人： | 绵阳京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 11138 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 滕一斌 |
| 地址： | 621000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种膜层检测方法、装置及膜层检测系统，属于面板制造领域。该膜层检测方法用于检测设置在基板上的至少一层膜层，该膜层检测方法包括：采用光源从基板设置有膜层的一侧进行照射；从基板设置有膜层的一侧，采集膜层图像，该膜层图像包括被照射的至少一层膜层的图像；根据膜层图像的亮度分布，确定至少一层膜层中最上层膜层的类型。本发明通过用光源从基板设置有膜层的一侧照射待处理的基板，在图像采集组件采集膜层图像之后，基于膜层图像的亮度分布，可以确定该至少一层膜层中最上层膜层的类型，从而避免了由于错误膜层导致面板报废或者设备宕机。达到了降低产能损失，提高生产效率的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种膜层检测方法，其特征在于，所述膜层检测方法用于检测设置在基板上的至少一层膜层，所述方法包括：/n在所述基板传输过程中，采用光源从所述基板设置有膜层的一侧进行照射；/n从所述基板设置有膜层的一侧，采集膜层图像，所述膜层图像包括被照射的所述至少一层膜层的图像；/n根据所述膜层图像的亮度分布，确定所述基板的亮度特征曲线，所述亮度特征曲线用于反映所述基板上各膜层在平行于所述基板的传输方向上的亮度分布；/n根据所述基板的亮度特征曲线，确定所述至少一层膜层中最上层膜层的类型。/n
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