[发明专利]测量系统和测量方法有效
| 申请号： | 201710902871.6 | 申请日： | 2017-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN107883831B | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | T.赫尔德 | 申请（专利权）人： | 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/008 | 分类号： | G01B5/008;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 王蕊瑞 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量系统(100)，该测量系统具有测量工具(10)，该测量工具具有探针本体(28)和光学标记(24)；具有相机(12)，该相机用于记录与该测量工具(10)相关的图像数据；并且具有评估与控制单元(14)，该评估与控制单元被设置成用于评估由该相机(12)记录的图像数据、并且使用所述数据来确定该光学标记(24)的空间位置坐标。该评估与控制单元(14)还被设置成用于计算由于外部机械荷载作用在该测量工具(10)上而造成的该测量工具(10)的变形、并且基于该光学标记(24)的空间位置坐标以及所计算出的变形来确定该探针本体(28)的空间位置坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
测量系统(100)，具有：‑测量工具(10)，该测量工具具有探针本体(28)和光学标记(24)；‑相机(12)，该相机用于记录与该测量工具(10)相关的图像数据；以及‑评估与控制单元(14)，该评估与控制单元被设置成用于评估由该相机(12)所捕捉到的图像数据，并且从这些数据确定该光学标记(24)的空间位置坐标，该评估与控制单元(14)还被设置成用于计算由于外部机械荷载作用在该测量工具(10)上而造成的该测量工具(10)的变形、并且基于该光学标记(24)的空间位置坐标以及所计算出的变形来确定该探针本体(28)的空间位置坐标。
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