[发明专利]滤光片检测装置及方法有效
| 申请号： | 201710861037.7 | 申请日： | 2017-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN107607595B | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 赵文龙;王栋;崔晓强;徐海燕;王钊;齐超;赵梓亨;唐欢;金贤镇 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N27/24 | 分类号： | G01N27/24;G01B7/06 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 刘延喜;王增鑫 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种滤光片检测装置，包括测量装置与数据处理装置，所述测量装置与所述数据处理装置电连接以便所述数据处理装置接收并处理所述测量装置采集的数据；所述测量装置包括相对设置的第一电极板和第二电极板，所述第一电极板和第二电极板内皆设有多个金属探针，所述第一电极板内的金属探针与所述第二电极板内的金属探针相互配合；所述数据处理装置内存储有所述第一电极板内的各金属探针和所述第二电极板内的各金属探针的预设坐标值。本发明的滤光片检测装置可确定滤光片中的异常剥离膜层，同时可确定该异常剥离膜层中发生异常剥离的具体位置。相应地，本发明还提供了一种滤光片检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 滤光 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种滤光片检测装置，其特征在于，包括测量装置与数据处理装置，所述测量装置与所述数据处理装置电连接以便所述数据处理装置接收并处理所述测量装置采集的数据；所述测量装置包括相对设置的第一电极板和第二电极板，所述第一电极板和第二电极板内皆设有多个金属探针，所述第一电极板内的金属探针与所述第二电极板内的金属探针相互配合；所述数据处理装置内存储有所述第一电极板内的各金属探针和所述第二电极板内的各金属探针的预设坐标值。
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