[发明专利]检测LED的磷光体的位置的设备和方法以及安装透镜的方法在审
| 申请号： | 201710846194.0 | 申请日： | 2012-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN107655407A | 公开（公告）日： | 2018-02-02 |
| 发明（设计）人： | 朴在铉 | 申请（专利权）人： | 韩华泰科株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G02B7/02;F21V9/00;F21V5/04;F21Y115/10 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司11286 | 代理人： | 姜长星,张川绪 |
| 地址： | 韩国庆尚*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种检测LED的磷光体的位置的设备和方法以及安装透镜的方法。根据示例性实施例的一方面，提供了一种磷光体位置检测设备，包括第一照明光照射单元，将第一照明光照射到基底上，具有磷光体的至少一个发光二极管布置在所述基底上；拍摄设备，拍摄所述基底；光学滤波器，布置在入射到拍摄设备的图像光的路径上并且不让第一照明光透射；控制单元，通过使用由拍摄设备拍摄的图像检测发光二极管的磷光体的位置，来确定所述发光二极管在所述基底上的实际布置位置，其中，接收第一照明光的磷光体发射透射穿过光学滤波器的光。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 led 磷光体 位置 设备 方法 以及 安装 透镜 | ||
【主权项】：
一种发光二极管的磷光体位置检测设备，包括：第一照明光照射单元，将第一照明光照射到基底上，具有磷光体的至少一个发光二极管布置在所述基底上；拍摄设备，拍摄所述基底；光学滤波器，布置在入射到拍摄设备的图像光的路径上并且不让第一照明光透射；和控制单元，通过使用由拍摄设备拍摄的图像检测发光二极管的磷光体的位置，来确定所述发光二极管在所述基底上的实际布置位置，其中，接收第一照明光的磷光体发射透射穿过光学滤波器的光。
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