[发明专利]光发射机中IQ延时差的测量方法、装置和光发射机有效
| 申请号： | 201710833555.8 | 申请日： | 2017-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN109510661B | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 陈浩;陶振宁 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079;H04B10/50 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种光发射机中的IQ延时差的测量方法、装置和光发射机，其中，所述测量方法包括：探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；通过对所述光发射机的调制器偏置进行调节，测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。通过该测量方法，可以简单地实现对光发射机中的IQ延时差的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 发射机 iq 延时 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光发射机中的IQ延时差的测量装置，其中，所述装置包括：探测单元，其探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；调节单元，其对所述光发射机的调制器偏置进行调节；测量单元，其测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；计算单元，其根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。
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