[发明专利]一种量测机点位自动补正方法及装置有效
| 申请号： | 201710797166.4 | 申请日： | 2017-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN107621245B | 公开（公告）日： | 2019-12-31 |
| 发明（设计）人： | 叶巧云 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/04 | 分类号： | G01B21/04 |
| 代理公司： | 44304 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 | 代理人： | 孙伟峰 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种量测机点位自动补正方法及装置。所述方法包括：使待测产品进入量测机机台；调用产品参数文件，以量测产品；完成产品量测，以获取最新点位信息；判定点位差异是否满足补正条件；以及如果点位差异满足补正条件，则备份参数文件并且补正点位信息；如果点位差异不满足补正条件，则使产品退出量测机机台。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 量测机点位 自动 补正 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种量测机点位自动补正方法，其特征在于，包括：/n使待测产品进入量测机机台；/n调用产品参数文件，以量测产品；/n完成产品量测，以获取最新点位信息，所述获取的最新点位信息包括产品的几何特征的点位信息，所述产品的几何特征包括产品在所述量测机的一个轴向方向上的两个边；/n判定点位差异是否满足补正条件；其中判定点位差异是否满足补正条件包括：判定产品的几何特征的点位信息的差异是否大于阈值；判定产品的几何特征的点位信息的差异是否满足补正条件包括：判定所述两个边中的至少一个边的当前点位信息与前次点位信息之间的差异是否大于阈值；以及/n如果点位差异满足补正条件，则备份参数文件并且补正点位信息；如果点位差异不满足补正条件，则使产品退出量测机机台。/n
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