[发明专利]真空环境下胶黏剂出气污染物平均解析化学能的确定方法有效
申请号: | 201710788313.1 | 申请日: | 2017-09-05 |
公开(公告)号: | CN107703258B | 公开(公告)日: | 2020-01-10 |
发明(设计)人: | 乔佳;郭兴;薛玉雄;杨生胜;庄建宏;黄一凡;石红;张剑锋 | 申请(专利权)人: | 兰州空间技术物理研究所 |
主分类号: | G01N33/00 | 分类号: | G01N33/00 |
代理公司: | 11120 北京理工大学专利中心 | 代理人: | 温子云;仇蕾安 |
地址: | 730000 甘*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | 本发明公开了一种真空环境下胶黏剂出气污染物平均解析化学能的确定方法,该方法根据扩散理论以及吸附动力学微分方程,建立胶黏剂出气污染物在低温敏感表面的沉积模型;采用出气设备针对相同的胶黏剂样品材料进行出气试验,获得不同出气单元温度和不同敏感表面温度下,沉积量随时间变化的试验曲线;利用多组试验曲线,求取满足试验曲线的沉积模型参数,参数中的E即为所需的平均解析化学能,每个敏感表面温度对应一个平均解析化学能E。使用本发明能更准确的预估解析化学能的值,从而减少卫星分子污染物在敏感表面沉积量估算误差,为航天器长寿命、高可靠性的要求提供技术保证。 | ||
搜索关键词: | 真空 环境 下胶黏剂 出气 污染物 平均 解析 化学能 确定 方法 | ||
【主权项】:
1.一种真空环境下胶黏剂出气污染物平均解析化学能的确定方法,其特征在于,包括:/n步骤1、根据扩散理论以及吸附动力学微分方程,建立胶黏剂出气污染物在低温敏感表面的沉积模型m
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