[发明专利]LED灯具加速寿命试验方法及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 201710735474.4 | 申请日： | 2017-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN107607848A | 公开（公告）日： | 2018-01-19 |
| 发明（设计）人： | 王尧;荆雷;王潇洵;高群;孙强 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)44316 | 代理人： | 赵勍毅 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明涉及基于电应力在不同测试状态下LED灯具加速寿命试验方法，所述试验方法包括以下步骤根据e指数衰减和每个LED目标试样的所有光衰数据进行拟合，得到两组LED目标试中每个LED目标试样在不同测试状态下的光通量衰减速率；根据LED的失效阈值和每个LED目标试样在不同测试状态下的光通量衰减速率，得到两组LED目标试中每个LED目标试样的加速寿命；根据累积失效概率为威布尔分布和两组LED目标试中每个LED目标试样的加速寿命，得到每组LED目标试样在不同测试状态下的特征寿命；根据加速寿命符合逆幂律模型，得到每个LED目标试样在不同测试状态下的工作特征寿命，并确定当累积失效概率的大小不同时在不同测试状态下的工作特征寿命误差。 | ||
| 搜索关键词： | led 灯具 加速 寿命 试验 方法 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
一种基于电应力在不同测试状态下LED灯具加速寿命试验方法，其特征在于：所述试验方法包括以下步骤：设定样品数量，并准备对应样品数量的两组LED目标试样以及确定每个LED目标试样的加速应力水平值；对两组LED目标试样均进行电应力加速寿命试验，并得到两组LED目标试样中每个LED目标试样在不同测试状态下的所有光衰数据；根据e指数衰减和每个LED目标试样的所有光衰数据进行拟合，得到两组LED目标试中每个LED目标试样在不同测试状态下的光通量衰减速率；根据LED的失效阈值和每个LED目标试样在不同测试状态下的光通量衰减速率，得到两组LED目标试中每个LED目标试样的加速寿命；根据累积失效概率为威布尔分布、两组LED目标试中每个LED目标试样的加速寿命和每个LED目标试样的加速应力水平值，得到每组LED目标试样在不同测试状态下的特征寿命；根据加速寿命符合逆幂律模型，得到每个LED目标试样在不同测试状态下的工作特征寿命，并确定当累积失效概率的大小不同时在不同测试状态下的工作特征寿命误差以进行可靠性分析。
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