[发明专利]一种通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 201710733487.8 | 申请日： | 2017-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN107588924B | 公开（公告）日： | 2020-01-31 |
| 发明（设计）人： | 李琳莹;甘露;宋志佗;李秋云 | 申请（专利权）人： | 成都泰瑞通信设备检测有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 郭受刚 |
| 地址： | 610000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法，将待测光纤按照测试要求的圈数在填充有检测液的环形槽中绕圈，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，从而抑制W波及单向扭对测试结果的影响，获得光纤宏弯损耗的真实数值，保证了光纤宏弯损耗测试的准确性、稳定性和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通信 光纤 损耗 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种通信光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，包括底板，底板上设有环形槽，所述环形槽为圆环状，环形槽内径与光纤测试要求的直径相对应；所述环形槽内填充有检测液，所述检测液的光折射率大于待测光纤涂层和/或光纤包层的光折射率；将待测光纤置于检测液中进行测试，在测试过程中，所述检测液有效吸收泄露出待测光纤的光功率，避免辐射出纤芯的辐射模经过光纤芯与包层、包层与光纤涂层、光纤涂层与空气界面多次反射回到纤芯，与传输模产生耦合振荡，以抑制W波对测试的影响。/n
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