[发明专利]微透镜阵列检测系统及微透镜阵列的检测方法有效
| 申请号： | 201710693965.7 | 申请日： | 2017-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN109387353B | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 杜鹏;周萌;李屹 | 申请（专利权）人： | 深圳光峰科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人： | 唐芳芳 |
| 地址： | 518055 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供微透镜阵列检测系统及微透镜阵列的检测方法，所述微透镜阵列检测系统包括：光源装置、待测微透镜阵列、光阑及光通量测试装置，所述光源装置用于发射光线；待测微透镜阵列用于接收并透射所述光线；所述光阑包含一具有预设孔径的通光孔，所述通光孔用于透射待测微透镜阵列出射的光线；所述光通量测试装置用于分别测试所述光线通过所述光阑前的第一光通量及通过所述光阑后的第二光通量，所述第一光通量与所述第二光通量用于分析待测微透镜阵列的质量。所述微透镜阵列检测系统及采用所述微透镜阵列检测系统的微透镜阵列的检测方法操作简单高效，准确率高。 | ||
| 搜索关键词： | 透镜 阵列 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种微透镜阵列检测系统，其特征在于，包括：光源装置，用于发射光线；待测微透镜阵列，用于接收并透射所述光线；光阑，包含一具有预设孔径的通光孔，所述通光孔用于透射待测微透镜阵列出射的光线；光通量测试装置用于分别测试所述光线通过所述光阑前的第一光通量及通过所述光阑后的第二光通量，所述第一光通量与所述第二光通量用于分析待测微透镜阵列的质量。
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