[发明专利]一种LED光电综合测试仪的校准方法有效

专利信息
申请号: 201710599891.0 申请日: 2017-07-21
公开(公告)号: CN107402365B 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 龚天保;黎丛兵;龚敏;吴百香;曾宏勋;杨轩元 申请(专利权)人: 深圳天溯计量检测股份有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01M11/02
代理公司: 佛山市广盈专利商标事务所(普通合伙) 44339 代理人: 杨乐兵
地址: 518000 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及LED测试领域,特别是LED光电综合测试仪,具体地是一种LED光电综合测试仪的校准方法。该LED光电综合测试仪包括积分球、光电探测器、A/D电路和测试控制系统,其校准方法包括以下步骤:分别测量待校准的LED光电综合测试仪的波长误差、波长重复性、色温误差、光通量误差、光强误差、正向电压误差、正向电流误差、反向电压误差和反向漏电流误差;对待校准的LED光电综合测试仪进行波长校准、色温校准、光通量校准、光强校准、正向电性能校准和反向电性能校准。本发明能够同时校准多种光电测试参数,无需专业的校准工具,校准过程简单,降低了校准成本,减少了校准时间和精力,提高了校准的精准度和效率。
搜索关键词: 一种 led 光电 综合 测试仪 校准 方法
【主权项】:
一种LED光电综合测试仪的校准方法,所述LED光电综合测试仪包括积分球、光电探测器、A/D电路和测试控制系统,其特征在于:该校准方法包括以下步骤,步骤1:准备待校准的LED光电综合测试仪;步骤2:分别测量待校准的LED光电综合测试仪的波长误差△λ、波长重复性δλ、色温误差△T、光通量误差△Ф、光强误差△I、正向电压误差△U1、正向电流误差△I1、反向电压误差△U2和反向漏电流误差△I2;步骤3:根据步骤2中的波长误差△λ和波长重复性δλ对待校准的LED光电综合测试仪进行波长校准,根据步骤2中的色温误差△T、光通量误差△Ф和光强误差△I对待校准的LED光电综合测试仪分别进行色温校准、光通量校准和光强校准,根据步骤2中的正向电压误差△U1和正向电流误差△I1对待校准的LED光电综合测试仪进行正向电性能校准,根据反向电压误差△U2反和反向漏电流误差△I2对待校准的LED光电综合测试仪进行反向电性能校准。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳天溯计量检测股份有限公司,未经深圳天溯计量检测股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710599891.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top