[发明专利]一种LED光电综合测试仪的校准方法有效
申请号: | 201710599891.0 | 申请日: | 2017-07-21 |
公开(公告)号: | CN107402365B | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 龚天保;黎丛兵;龚敏;吴百香;曾宏勋;杨轩元 | 申请(专利权)人: | 深圳天溯计量检测股份有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;G01M11/02 |
代理公司: | 佛山市广盈专利商标事务所(普通合伙) 44339 | 代理人: | 杨乐兵 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及LED测试领域,特别是LED光电综合测试仪,具体地是一种LED光电综合测试仪的校准方法。该LED光电综合测试仪包括积分球、光电探测器、A/D电路和测试控制系统,其校准方法包括以下步骤:分别测量待校准的LED光电综合测试仪的波长误差、波长重复性、色温误差、光通量误差、光强误差、正向电压误差、正向电流误差、反向电压误差和反向漏电流误差;对待校准的LED光电综合测试仪进行波长校准、色温校准、光通量校准、光强校准、正向电性能校准和反向电性能校准。本发明能够同时校准多种光电测试参数,无需专业的校准工具,校准过程简单,降低了校准成本,减少了校准时间和精力,提高了校准的精准度和效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 led 光电 综合 测试仪 校准 方法 | ||
【主权项】:
一种LED光电综合测试仪的校准方法,所述LED光电综合测试仪包括积分球、光电探测器、A/D电路和测试控制系统,其特征在于:该校准方法包括以下步骤,步骤1:准备待校准的LED光电综合测试仪;步骤2:分别测量待校准的LED光电综合测试仪的波长误差△λ、波长重复性δλ、色温误差△T、光通量误差△Ф、光强误差△I、正向电压误差△U1、正向电流误差△I1、反向电压误差△U2和反向漏电流误差△I2;步骤3:根据步骤2中的波长误差△λ和波长重复性δλ对待校准的LED光电综合测试仪进行波长校准,根据步骤2中的色温误差△T、光通量误差△Ф和光强误差△I对待校准的LED光电综合测试仪分别进行色温校准、光通量校准和光强校准,根据步骤2中的正向电压误差△U1和正向电流误差△I1对待校准的LED光电综合测试仪进行正向电性能校准,根据反向电压误差△U2反和反向漏电流误差△I2对待校准的LED光电综合测试仪进行反向电性能校准。
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