[发明专利]一种多site信号量检测及失效判定系统及方法

摘要

本发明公开了一种多site信号量检测及失效判定系统及方法，该系统通过嵌入式微处理器和LCD显示模块实现，所述嵌入式微处理器包括有指令处理模块、数据存储模块、固件更新模块、OS检测及修复模块、电源电压控制模块、输入输出信号量检测模块、按键处理模块、失效处理模块、handler控制模块。该系统给批量生产端进行芯片直流特性指标分析检测提供了必要手段，将多指标项信号量集成在一套系统内进行检测和失效判定，包含芯片本身物理连接特性检测，大幅提高工作效率。

主权项

一种多site信号量检测及失效判定系统，其特征在于该系统通过嵌入式微处理器和LCD显示模块实现，所述嵌入式微处理器包括有指令处理模块、数据存储模块、固件更新模块、OS检测及修复模块、电源电压控制模块、输入输出信号量检测模块、按键处理模块、失效处理模块、handler控制模块；其中，指令处理模块，主要是接收用户的控制命令输入，并根据相应命令执行相关控制功能，指令处理模块包含按键扫描、指令校验、失效处理、超时检测、功能控制及指令发送操作，通过指令处理模块可以实现对检测及失效判定系统进行实时控制；数据存储模块是外接的移动存储卡，移动存储模块划分为文件索引区、芯片配置文件信息区、hex数据区和测试数据区；该模块通过嵌入式微处理器的SPI接口连接，配置文件索引表、芯片失效数据信息及测试数据信息、管脚及模块输入电阻、电气特性信息、芯片型号、标识信息、客户代烧录hex、测试hex及测试系统版本号相关配置文件信息，实现实时动态对被测芯片的测试数据及状态信息进行记录；固件更新模块，主要包含对新固件程序对比、固件全部更新和时序逻辑功能更新；OS检测及修复模块，主要是检测被测芯片接触是否良好、管脚间短路及短路修复功能，根据获取到的芯片配置信息，提取芯片管脚对于位置及防治位置，从而确认芯片没有放置正确或接触不良或者短路问题；电源电压控制模块完成被测芯片烧录电压和供电电压的输出功能；输入输出信号量检测模块，主要包含外部DAC、外部ADC、OP运算放大器、可编程电阻器和电子开关等组成，实现电压检测、电流输出、功耗检测、漏电检测、sleep及halt功耗功能；失效处理模块，主要对用户命令帧及数据效验、数据通信接口、固件更新、外接handler设备及输入输出信号量失效处理，实现所有测试指标项等事件的失效判定及自适应处理；handler控制模块，负责芯片的自动加载和对芯片测试情况进行区分，实现芯片的测试和烧录；显示模块，主要是显示系统在各指标项测试工作过程中的状态信息、失效判定结果及测试数据存储显示。