[发明专利]一种基于组织自荧光强度减少作为检测恶性实体瘤标志的检测方法及其应用在审
申请号: | 201710557482.4 | 申请日: | 2017-07-10 |
公开(公告)号: | CN107300545A | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
发明(设计)人: | 殷卫海;张铭超 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;A61B5/00 |
代理公司: | 上海顺华专利代理有限责任公司31203 | 代理人: | 陆林辉 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种基于组织自荧光强度减少作为检测恶性实体瘤标志的检测方法及其应用,包括以下步骤(1)检测组织在单光子400‑700nm激发光或者双光子700‑1000nm激发光的激发下,所发出的波长为420‑800nm的自荧光;(2)比较步骤(1)中组织各个部位的自荧光强度,并将步骤(1)中的自荧光与已知恶性实体瘤患者和无恶性实体瘤人群的自荧光强度结果进行对比;(3)根据上述对比结果判定恶性实体瘤的位置和大小恶性实体瘤发出的波长为420‑800nm的自荧光光强度,与该组织是恶性实体瘤的可能性呈负相关关系,自荧光光强度越低的部分是恶性实体瘤的可能性越大。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 组织 荧光 强度 减少 作为 检测 恶性 实体 标志 方法 及其 应用 | ||
【主权项】:
一种基于组织自荧光强度减少作为检测恶性实体瘤标志的检测方法,包括以下步骤:(1)运用单光子400‑700nm激发光或者双光子700‑1000nm激发光照射被检测者组织,以激发出该组织的自荧光;(2)检测组织发出的波长在420‑800nm范围内的自荧光强度;(3)比较步骤(1)中该组织各个部位的自荧光强度;(4)并将步骤(1)的自荧光强度与已知的该部位的恶性实体瘤、非实体瘤组织自荧光强度结果进行对比;(5)根据上述对比结果,完成基于组织自荧光强度作为检测恶性实体瘤的生物标志物的检测方法。
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