[发明专利]测试探针、测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 201710549804.0 | 申请日： | 2017-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN107102181B | 公开（公告）日： | 2019-10-15 |
| 发明（设计）人： | 周超;黄先纯;张涛;吴正运;耿涛;甘由鹏 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种测试探针、测试装置及测试方法。该测试探针包括针架以及至少部分伸入所述针架内部且可与所述针架相对移动的动针。所述动针配置为在相对所述针架移动的第一行程内与所述针架电连接以输出测试信号，在相对所述针架移动的第二行程内与所述针架断开电连接。该测试探针可以有效避免基板的扎伤风险。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 探针 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试探针，包括：针架，以及至少部分伸入所述针架内部且可与所述针架相对移动的动针，其中，所述动针配置为在相对所述针架移动的第一行程内与所述针架电连接以输出测试信号，在相对所述针架移动的第二行程内与所述针架断开电连接；所述针架包括容纳所述动针的通道且在所述通道的一端设置有开口，所述动针包括：设置在所述针架的通道内的第一传导部，设置在所述第一传导部靠近所述开口的一端上且通过所述开口延伸至所述针架外的第二传导部，以及设置在所述第二传导部远离所述第一传导部的一端上的针头。
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