[发明专利]标准放大图测量方法、测量装置及测量系统有效
| 申请号： | 201710508006.3 | 申请日： | 2017-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN107144222B | 公开（公告）日： | 2019-08-13 |
| 发明（设计）人： | 陈芳;黄意;樊军 | 申请（专利权）人： | 中国航发南方工业有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/24 |
| 代理公司： | 长沙智嵘专利代理事务所(普通合伙) 43211 | 代理人： | 胡亮 |
| 地址： | 412002*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种标准放大图测量方法、测量装置及测量系统，该测量方法包括：将待测标准放大图依据其实体模型要求转换为对应的三维模型图；将待测标准放大图上多个理论计量点对应的第一坐标值提取并存储至第一文件中；将三维模型图导入测量系统，并在测量系统中根据待测标准放大图的中心线建立测量坐标系；将第一文件导入测量系统，在测量系统中测量多个理论计量点对应的第二坐标值；根据第二坐标值构成的特征组合判定待测标准放大图对应的线轮廓度是否符合理论线轮廓度要求。本发明测量方法可以实现整体拟合，通过根据第二坐标值构成的特征组合判定线轮廓度是否符合理论要求，使得线轮廓度的校准更为精准。 | ||
| 搜索关键词： | 测量系统 测量 线轮廓 三维模型图 测量装置 理论计量 特征组合 判定 测量坐标系 理论要求 实体模型 校准 理论线 轮廓度 拟合 存储 转换 | ||
【主权项】：
1.一种标准放大图测量方法，用于对标准放大图在使用前进行校准测量，其特征在于，所述测量方法包括：将待测标准放大图依据其实体模型要求转换为对应的三维模型图；将所述待测标准放大图上多个理论计量点对应的第一坐标值提取并存储至第一文件中；将所述三维模型图导入测量系统，并在所述测量系统中根据所述待测标准放大图的中心线建立测量坐标系；将所述第一文件导入所述测量系统，在所述测量系统中测量所述多个理论计量点对应的第二坐标值；根据所述第二坐标值构成的特征组合判定所述待测标准放大图对应的线轮廓度是否符合理论线轮廓度要求，进而判定所述待测标准放大图是否符合设计要求；其中，在所述测量系统中测量所述多个理论计量点对应的第二坐标值包括：取所述多个理论计量点的矢量方向为所述三维模型图上对应曲线的法向，采集对应的坐标值作为所述第二坐标值。
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