[发明专利]一种ICC profile色表测量数据优化方法及其构建方法有效

专利信息
申请号: 201710472525.9 申请日: 2017-06-20
公开(公告)号: CN107241528B 公开(公告)日: 2019-04-12
发明(设计)人: 周华;周易;傅东 申请(专利权)人: 杭州宏华数码科技股份有限公司
主分类号: H04N1/60 分类号: H04N1/60
代理公司: 杭州天欣专利事务所(普通合伙) 33209 代理人: 陈农
地址: 310052 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本申请涉及一种ICC profile色表测量数据优化方法及其构建方法,ICC profile色表测量数据优化方法包括以下步骤:(1)设计色表图;(2)打印色表图:(3)采集色表图中每个色靶普通点和冗余的色靶关键点数据;(4)提取测量数据;(5)提取设备颜色空间色靶点特征;(6)计算测量数据的权重系数并预优化;(7)B样条曲线拟合逼近;(8)计算测量数据在不同维度方向上的拟合点均值;(9)根据权重系数求色靶点的优化值;(10)对所有色靶点测量数据进行优化。本发明色表设计上加入冗余的关色靶关键点,消除测量时带来的误差,减少重复打印成本,提高效率,采用B样条曲线优化,通过多维度方向拟合逼近和权重系数推导出优化值,使得误差大幅降低,通用性强。
搜索关键词: 一种 iccprofile 测量 数据 优化 方法 及其 构建
【主权项】:
1.一种基于多维度样条拟合的ICC profile色表测量数据优化方法,其特征是包括以下步骤:(1)设计色表图,所述色表图由色靶普通点和冗余的色靶关键点组成;(2)打印设备打印色表图;(3)采集色表图中每个色靶普通点数据和冗余的色靶关键点数据;(4)提取测量数据,对于色靶普通点及色靶关键点测量数据,对每个色靶关键点,在冗余的测量数据中去除与平均值偏差最大的,取余下的平均数作为色靶关键点的优化值,并作为其他色靶普通点测量数据的参照基准;(5)提取设备颜色空间色靶点特征,色靶点特征包括色靶点测量数据和所有过色靶点的符合线性关系的颜色线段;(6)计算测量数据的权重系数;(7)对测量数据进行B样条曲线拟合逼近;(8)计算色靶普通点测量数据在不同维度方向上的拟合点及根据权重系数求出不同维度方向上的优化值;(9)将不同维度方向上的优化值求加权平均值,作为测量数据的最终优化值,求出测量数据的优化后数据;(10)重复步骤(3)~(9),对所有色靶点的测量数据进行优化。
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