[发明专利]用于BOPP薄膜生产的薄膜厚度监测方法有效
| 申请号： | 201710429678.5 | 申请日： | 2017-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN107179055B | 公开（公告）日： | 2019-11-01 |
| 发明（设计）人： | 邹细勇;徐伟;陈利锋 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了用于BOPP薄膜生产的薄膜厚度监测方法，采集薄膜测厚仪输出的薄膜剖面图像，根据所述图像获取其中原膜厚曲线的基准厚度值、坐标刻度值和厚度平均值，又根据所述图像先生成一条连续完整且无交叉的膜厚曲线，再计算该曲线上每个点所对应的厚度值，然后根据所输往对象的要求，将厚度值输出或显示，并在厚度值超出预先设置的范围时发出警示。本发明能避开测厚仪特定数据格式的解析，准确获取厚度数据，实现对薄膜剖面的实时厚度自动监测，有效防止了人为监测的误判，为薄膜厚度控制提供了基本依据；而且，本监测方法容易推广到其他类似设备上，具有良好的扩展性。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜 薄膜厚度监测 测厚仪 薄膜厚度控制 扩展性 输出 厚度数据 类似设备 剖面图像 数据格式 图像获取 预先设置 自动监测 坐标刻度 误判 监测 警示 膜厚 原膜 解析 避开 采集 图像 生产 | ||
【主权项】：
1.一种用于BOPP薄膜生产的薄膜厚度监测方法，其包括如下步骤：a)获取从薄膜测厚仪输出的薄膜剖面图像资料；b)根据所述薄膜剖面图像资料获取所述薄膜剖面图像中原膜厚曲线的基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值；c)根据所述薄膜剖面图像资料生成一条连续完整且无交叉的膜厚曲线，并在所获取的所述基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值的基础上，计算所述生成膜厚曲线上每个点所对应的厚度值；d)根据预设的输出格式，将所获取的各点厚度值输出或在显示器上显示，并在厚度值超出预置的范围时发出警示。
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