[发明专利]一种识别礁盖、礁核、礁基的方法有效
申请号: | 201710384591.0 | 申请日: | 2017-05-26 |
公开(公告)号: | CN108931813B | 公开(公告)日: | 2020-04-10 |
发明(设计)人: | 夏一军;胡向阳;李浩;冯琼;王鹏 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
主分类号: | G01V1/30 | 分类号: | G01V1/30 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人: | 吴大建;何娇 |
地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种识别礁盖、礁核、礁基的方法,该方法通过分别获取礁盖、礁核、礁基各自的地震反射结构样本,将低频解释结果曲线与高频测井曲线融合成高频约束曲线,高频测井曲线对礁盖、礁核、礁基具有不同的响应范围,利用礁盖、礁核、礁基各自的地震反射结构样本、研究区地震数据和高频约束曲线进行波形差异反演,从而识别礁盖、礁核、礁基。利用该方法识别礁盖、礁核、礁基,准确、可靠,分辨率高,可对整个研究区的礁盖、礁核、礁基进行识别,了解礁盖、礁核、礁基在整个研究区内的展布情况。 | ||
搜索关键词: | 一种 识别 礁核 方法 | ||
【主权项】:
1.一种识别礁盖、礁核、礁基的方法,其特征在于,包括以下步骤:分别获取礁盖、礁核、礁基各自的地震反射结构样本;将低频解释结果曲线与高频测井曲线融合成高频约束曲线;所述高频测井曲线对礁盖、礁核、礁基具有不同的响应范围;利用礁盖、礁核、礁基各自的地震反射结构样本、地震数据和高频约束曲线进行波形差异反演,从而识别礁盖、礁核、礁基。
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