[发明专利]一种发光二极管量子效率测量装置及其测量方法

摘要

一种发光二极管量子效率测量装置及其测量方法，涉及发光二极管。装置设有计算机、数字电源表、温度控制源表、温控夹具、光谱仪和红外热像仪。测量方法：采用发光二极管量子效率测量装置；由温度控制源表设定一组温度值T，设定的一组温度值至少包含5个不同的温度值T；按温度值和电流值测量得到不同温控夹具温度值TS下的发光二极管的一组量子效率η；通过所测得的一组量子效率η，先画出不同电流值I条件下量子效率η与温度T的关系图；通过公式获得消除热影响情况下的量子效率(η′)。

主权项

1.发光二极管量子效率测量方法，其特征在于包括以下步骤：1)采用发光二极管量子效率测量装置，所述发光二极管量子效率测量装置设有计算机、数字电源表、温度控制源表、温控夹具、光谱仪和红外热像仪；所述温控夹具夹持待测发光二极管，数字电源表电源两极连接待测发光二极管，数字电源表与计算机电连接，计算机与温度控制源表电连接，温度控制源表所配套的温度传感器和加热板均安装于温控夹具上，光谱仪与计算机电连接，红外热像仪与计算机电连接；2)由温度控制源表设定一组温度值T，设定的一组温度值至少包含5个不同的温度值T，所述温度值低于待测发光二极管的失效温度，同时由数字电源表设定电流值I，所述电流值I低于待测发光二极管的失效电流；3)按所设定的一组温度值和所设定的电流值，分别测量得到不同温控夹具温度值TS下的发光二极管的一组量子效率η；4)通过步骤3)所测得的一组量子效率η，先画出不同电流值I条件下量子效率η与温度T的关系图，然后通过下述公式(1)进行直线拟合：η＝λ1(I)‑λ2(I)*T      (1)得到一组与电流值I对应的λ1(I)和λ2(I)系数；5)控制温控夹具的温度不变，使数字电源表的输出电流从零开始逐渐增大，红外热像仪测量并记录发光二极管的温度T(I)，测量的电流不超过发光二极管的失效电流，再通过下述公式(2)进行拟合：T(I)＝A+B*I     (2)6)保持温控夹具的温度不变，使数字电源表的输出电流从零开始逐渐增大，光谱仪测量并记录发光二极管的受热影响的量子效率η，测量的电流不超过发光二极管的失效电流；7)通过公式(3)获得消除热影响情况下的量子效率(η′)：η′＝η+B*∫λ2(I)dI.    (3)。