[发明专利]电子元件测试系统在审
| 申请号： | 201710355965.6 | 申请日： | 2017-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN108957034A | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 林源记;谢志宏;林世芳 | 申请（专利权）人： | 亚克先进科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/01 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 王玉双;李岩 |
| 地址： | 中国台湾苗粟县头*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭示一种电子元件测试系统，包含机架、托盘置放区、测试区、前区移载装置以及测试区移载装置。托盘置放区邻接设置于机架。测试区邻接设置于机架上，包含电子元件测试装置用以对一托盘内的电子元件进行测试。前区移载装置可于托盘置放区及测试区内位移地设置于机架上，用以取置托盘于托盘置放区。测试区移载装置可于测试区位移地设置于机架上，测试区移载装置用以更换待测试的托盘与经测试后的托盘。 | ||
| 搜索关键词： | 托盘 测试区 移载装置 置放区 测试 电子元件测试系统 邻接设置 前区 电子元件测试装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子元件测试系统，其特征在于，包含：一机架；一托盘置放区，邻接设置于该机架；一测试区，邻接设置于该机架上，包含多个电子元件测试装置用以对一托盘内的电子元件进行测试；一前区移载装置，可于该托盘置放区及该测试区内位移地设置于该机架上，用以取置该托盘于该托盘置放区；以及一测试区移载装置，可于该测试区位移地设置于该机架上，该测试区移载装置用以取置待测试之托盘于该前区移载装置并与经该电子元件测试装置测试后之托盘进行更换。
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