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[实用新型]芯片测试装置-CN201822130894.2有效
发明人： 林源记;谢志宏 -专利权人：亚克先进科技股份有限公司
申请日： 2018-12-18 - 公布日： 2019-11-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提供一种芯片测试装置，包含测试头、第一取像装置、移载台、第二取像装置以及控制器。测试头能沿Z方向位移。第一取像装置设置于测试头在Z方向上的一侧。移载台用以承载芯片并能沿垂直Z方向的Y方向位移于测试头及第一取像装置之间，当测试头、第一取像装置及移载台位于相同的Y方向位置时，第一取像装置能沿Z方向穿透移载台拍摄测试头的影像。第二取像装置设置于测试头在Z方向上相对于移载台的同一侧，且第二取像装置相对于测试头在Y方向上具有偏置量。控制器信号连接测试头、移载台、第一取像装置以及第二取像装置。
取像装置测试头移载芯片测试装置本实用新型控制器信号连接测试控制器偏置量穿透垂直影像承载芯片拍摄

[发明专利]用于承载托盘的浮动定位装置-CN201510469627.6有效
发明人： 林源记 -专利权人：亚克先进科技股份有限公司
申请日： 2015-08-04 - 公布日： 2019-01-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供的用于承载托盘的浮动定位装置包括基座、承载板以及多个顶柱。所述承载板设置于所述基座上，用于承载托盘。所述多个顶柱固定于所述基座上，用于提供顶起所述承载板的力，所述承载板可移动地设置于所述多个顶柱上，每一顶柱内具有一弹簧以及连接所述弹簧一端的承座，所述承座上设有一球体，所述承载板的底面上具有对应所述球体的锥状凹面与所述球体接合，使得所述承载板可在所述多个顶柱上移动及/或转动，而完成托盘的浮动定位。
用于承载托盘浮动定位装置

[发明专利]电子元件测试系统-CN201710355965.6在审
发明人： 林源记;谢志宏;林世芳 -专利权人：亚克先进科技股份有限公司
申请日： 2017-05-19 - 公布日： 2018-12-07 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本发明揭示一种电子元件测试系统，包含机架、托盘置放区、测试区、前区移载装置以及测试区移载装置。托盘置放区邻接设置于机架。测试区邻接设置于机架上，包含电子元件测试装置用以对一托盘内的电子元件进行测试。前区移载装置可于托盘置放区及测试区内位移地设置于机架上，用以取置托盘于托盘置放区。测试区移载装置可于测试区位移地设置于机架上，测试区移载装置用以更换待测试的托盘与经测试后的托盘。
托盘测试区移载装置置放区测试电子元件测试系统邻接设置前区电子元件测试装置

[发明专利]电子元件测试装置-CN201710356017.4在审
发明人： 林源记;谢志宏;林世芳 -专利权人：亚克先进科技股份有限公司
申请日： 2017-05-19 - 公布日： 2018-12-07 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：本发明为一种电子元件测试装置，包含机体、测试模块、承载台及升降导引件。测试模块设置于机体。承载台可相对测试模块沿第一方向位移地设置于机体上，且承载台具有配合部。升降导引件可沿垂直于第一方向的第二方向移动地设置于机体，升降导引件具有导引部，导引部具有第一端及第二端，第一端及第二端位于第一方向的不同位置上，当导引部于第二方向上与配合部重叠时，配合部相对于导引部配合导引而沿第一方向位移。
导引部测试模块承载台导引件电子元件测试装置升降方向位移第一端配合方向移动导引垂直

[发明专利]电子组件之翻转与测试方法-CN201410558110.X有效
发明人： 林源记 -专利权人：亚克先进科技股份有限公司
申请日： 2014-10-20 - 公布日： 2018-06-08 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种电子组件之翻转与测试方法，适用于翻转与测试系统，本发明的特征在于将翻转/测试座本体以及翻转单元对若干电子组件的翻转步骤、检视步骤以及测试步骤一次性地依序完成，藉由翻转/测试座本体以及翻转单元，以提高电子组件的检测效率。
翻转电子组件翻转单元测试座测试测试步骤测试系统一次性检视检测

[发明专利]机械涂胶装置-CN201610204165.X在审
发明人： 林源记;黎孟达 -专利权人：亚克先进科技股份有限公司
申请日： 2016-04-01 - 公布日： 2017-10-24 - 主分类号： B05C5/02 文献下载
摘要：本发明提出一种机械涂胶装置，包含基座、活塞、旋转阀及一出胶嘴。基座由上而下依序包含第一中空部、第一出胶流道、第二中空部与第二出胶流道。第一出胶流道的二端分别连通于第一中空部与第二中空部，第一出胶流道与第二出胶流道之间则被第二中空部所隔开。本发明通过插设于第二中空部的旋转阀来控制第一出胶流道与第二出胶流道之间的连通与否，借此达到避免胶液垂滴现象，此外还可借由旋转阀来调整第一出胶流道与第二出胶流道之间的开口对位程度以控制胶液流量。
机械涂胶装置

[发明专利]电子组件的定位装置-CN201310616544.6有效
发明人： 林源记 -专利权人：亚克先进科技股份有限公司
申请日： 2013-11-27 - 公布日： 2015-03-18 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：本发明涉及一种电子组件的定位装置，包括固定组件、承载单元、供料单元以及吸放装置，切换与调整固定组件的第一信道之第一压力以及第二通道的压力，使吸放装置吸附电子组件，以将供料单元的电子组件快速、准确定位于承载单元。
电子组件定位装置

[实用新型]用于触控面板的测试棒结构-CN201220494688.X有效
发明人： 林源记 -专利权人：亚克先进科技股份有限公司
申请日： 2012-09-25 - 公布日： 2013-05-08 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种用于触控面板的测试棒结构，其包含：一测试棒本体，该测试棒本体一端设有一结合部，使该测试棒本体可通过该结合部组装设置于触控面板测试机上，该测试棒本体另一端设有一压抵部，又该压抵部表面周围包覆设有一防刮膜；凭借该测试棒本体其压抵部表面周围包覆设有防刮膜，当该测试棒本体组装设置于该触控面板测试机后，当该测试棒本体下移抵压该待测试的触控面板，并于该触控面板上水平移动进行测试时，即可避免或降低该测试棒本体刮伤该触控面板的情况，因而不需如现有须于每一片待测试的触控面板上贴上保护膜，可节省大量的人力工时与材料成本，进而使本实用新型可达到大幅降低测试成本与提高测试效率的功效。
用于面板测试结构

[实用新型]用于测试机台的微调机构-CN201220130516.4有效
发明人： 林源记;温进光 -专利权人：亚克先进科技股份有限公司
申请日： 2012-03-30 - 公布日： 2013-01-23 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本创作包含：一机体；一进出料装置，该进出料装置设于该机体上；一测试装置，该测试装置设于该机体上，该测试装置包含有一第二传动机构、一测试治具与一触接控制微调机构，其中该测试治具底部设有至少一个压抵部，又该触接控制微调机构尚包含有一第三传动机构、一滑动件与两个限位微调机构，其中该滑动件设有至少一个斜面部，且该斜面部的位置与该测试治具其压抵部的位置相对应。本创作可完成微调探针的对焦高度位置及控制探针与触控面板相触接等测试动作流程，而使本创作只需采用气压缸作为传动机构，而不需使用较精密复杂且昂贵的伺服马达及相关的控制装置或线路，进而可使本创作可达到降低机台制作成本及简化产品结构的功效。
用于测试机台微调机构

[实用新型]触控面板测试装置-CN201120386562.6有效
发明人： 林源记;陈圣杰 -专利权人：亚克先进科技股份有限公司
申请日： 2011-10-12 - 公布日： 2012-06-13 - 主分类号： G01L25/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种触控面板测试装置，包含：一机体，内设有控制单元；一进出料装置，设于机体内，包含有至少一个第一传动机构与至少一个测试平台，测试平台上包含有测试座与一荷重元；一测试装置，设于机体内，且测试装置设于进出料装置上方，测试装置包含有一第二传动机构与测试头机构，测试头机构包含有一测试本体与一压抵机构及一测试头，测试头机构包含一调整机构，调整机构与压抵机构相穿固；测试平台一侧设有荷重元，测试头机构包含有一调整机构，通过调整该调整机构，调整并改变测试头机构其测试头下压的力量，可于测试作业进行前即可对所有测试头机构其测试头完成下压力量的校准，可达到提升测试精度与降低成本及提升测试效率的功效。
面板测试装置

[实用新型]能够测试电子性能与光特性的电子元件测试机具-CN201120125456.2有效
发明人： 林源记;谢志宏;陈圣杰 -专利权人：亚克先进科技股份有限公司
申请日： 2011-04-26 - 公布日： 2011-12-28 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种能够测试电子性能与光特性的电子元件测试机具，进出片装置设于机体内，该进出片装置设有第一传动机构，该进出片装置设有测试平台，该测试平台固设于第一传动机构上方；一测试装置，该测试装置设于机体上，该测试装置设有第二传动机构，该第二传动机构一侧设有光特性测试模块，该测试装置设有电性测试模块，该测试装置设有至少三个水平调整装置，该水平该测试装置设有至少二个旋转角调整装置；凭借本实用新型其测试装置设有水平调整装置与旋转角调整装置，而可调整该电性测试模块的水平度与θ角度，而使该电性测试模块其所有探针都能稳固准确接触待测的电子元件，进而使本实用新型可达到提升测试合格率与效率的功效。
能够测试电子性能特性电子元件机具

[发明专利]电接触用合金材料及其探针-CN200810169096.9无效
发明人： 林源记 -专利权人：京元电子股份有限公司
申请日： 2008-10-20 - 公布日： 2010-06-09 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明揭露一种电接触用合金材料及其探针。此种电接触用合金材料及其探针主要用于半导体元件的测试。此种电接触用合金材料主要包含有金(Au)、银(Ag)、铜(Cu)与铂(Pt)等元素，其特征在于此种电接触用合金材料是至少经固熔(solution)、冷加工(cold-work/rolling)与时效风化(aging hardness)等工艺而形成。其中金的重量成份比例不小于73％，银(Ag)则约占4％。此种电接触用合金材料的表面硬度介于355Hv维氏硬度与378Hv维氏硬度之间，较佳的电阻系数则介于15.5欧姆/公分与20.2欧姆/公分之间。
接触合金材料及其探针

[发明专利]可模拟系统测试的芯片测试分类机-CN200810213606.8无效
发明人： 林源记;谢志宏 -专利权人：京元电子股份有限公司
申请日： 2008-08-22 - 公布日： 2010-02-24 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明是关于一种可模拟系统测试的芯片测试分类机，先于机台上设有温控室，温控室的底板设置一测试座，机械臂的下压杆下方组设有真空吸嘴用以吸取待测芯片，然后将下压杆下压深入温控室内使得待测芯片对应抵紧测试座并与模拟系统电路板电性连接，同时下压杆中段的盖板也盖合密闭住温控室的上开口，使温控室内形成一密闭容室。此时，通入高温或低温气体至温控室内，可令待测芯片在高温或低温环境下，分别通过模拟系统电路板作系统等级的模拟测试。若于温控室增设导出管快速抽出温控室内气体，更可缩短不同温度变换时的系统测试时程。
模拟系统测试芯片分类机

[发明专利]分料装置-CN200810134901.4无效
发明人： 林源记;谢志宏;黄钧鸿 -专利权人：京元电子股份有限公司
申请日： 2008-07-29 - 公布日： 2010-02-03 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本发明有关一种测试装置的分料装置，包含：一阻挡臂，设于分料装置前端，控制第一待测元件进入；一第一夹爪组，设于阻挡臂后，夹取第一待测元件；一第一摆臂组，设于第一夹爪组后控制并夹取动作；一第二夹爪组，设于分料装置前端另侧，位于第一夹爪组后夹取第二待测元件；一第二摆臂组，设于第二夹爪组后；一第一前推块，设于第一摆臂组后与第二前推块连接，推动第一夹爪组向前移动；一第二前推块，控制阻挡臂动作；一第三摆臂组，设于第一前推块后，推动第二与第一前推块向前；一下压座，设置于第一、第二及第三摆臂组上方；及一动力源，设于下压座上方与下压座连接，驱动下压座。本发明因仅有一动力源并藉其带动各元件进行分料，故可增快分料速度及缩小进料机构的体积。
装置

[发明专利]变距式IC分类机-CN200810129316.5无效
发明人： 林源记;谢志宏;林世芳 -专利权人：京元电子股份有限公司
申请日： 2008-06-26 - 公布日： 2009-12-30 - 主分类号： B07C5/36 文献下载
摘要：本发明提供一种变距式IC分类机，用以取放多个IC至一承载盘上，包括一本体，配置有一水平移动平台及设置其上的垂直移动机构；一框架，设置于垂直移动机构；以及多个IC吸嘴机构。其中，一横向线性马达配置于框架，包含有横向定子与多个横向动子，各横向动子上设置有IC吸嘴机构。一纵向线性马达配置于框架且垂直于横向线性马达，包含有纵向定子与纵向动子，纵向动子上设置有一横向滑轨，其上配置有对应于横向动子的横向滑块，各横向滑块上设置有IC吸嘴机构。多个纵向滑轨装置，连接于横向动子与横向滑块。藉由操作横向线性马达与纵向线性马达，可使IC吸嘴机构的间距得以变化调整。
变距式 ic 分类机

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