[发明专利]配置多种探头的超声波工业检测仪

摘要

本发明公开了配置多种探头的超声波工业检测仪，包括开关、探测通道主外壳、第一探测支路外壳、第二探测支路外壳、第一探头、第二探头、第三探头，探测通道主外壳一端与第二探头连接；第一探测支路外壳的一端连接在探测通道主外壳距离第二探头5cm～10cm的位置，其另一端连接第一探头；第二探测支路外壳的一端连接在探测通道主外壳距离第二探头5cm～10cm的位置，其另一端连接第三探头；开关有三个，均设置在距离探测通道主外壳上，设置开关的位置与第一探测支路外壳或者第二探测支路外壳的连接点相距5cm～10cm。本发明使同一个探测仪可同时使用三个通道进行检测，并且能够更换不同的探头，使得探伤仪更加实用于实际生产生活，提高探伤效率。

主权项

配置多种探头的超声波工业检测仪，其特征在于，包括开关(1)、探测通道主外壳(2)、第一探测支路外壳(3)、第二探测支路外壳(4)、第一探头(5)、第二探头(6)、第三探头(7)，所述探测通道主外壳(2)一端与第二探头(6)连接；所述第一探测支路外壳(3)的一端连接在探测通道主外壳(2)距离第二探头(6)5cm～10cm的位置，其另一端连接第一探头(5)；所述第二探测支路外壳(4)的一端连接在探测通道主外壳(2)距离第二探头(6)5cm～10cm的位置，其另一端连接第三探头(7)；所述开关(1)有三个，均设置在距离探测通道主外壳(2)上，设置开关(2)的位置与第一探测支路外壳(3)或者第二探测支路外壳(4)的连接点相距5cm～10cm。