[发明专利]一种IGBT模块特性老化装置有效
申请号: | 201710338378.6 | 申请日: | 2017-05-15 |
公开(公告)号: | CN107024649B | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | 顾扣宏;吴行竹;吴鹰 | 申请(专利权)人: | 扬州乔恒电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 张淏 |
地址: | 225000 江苏省扬*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种IGBT模块特性老化装置,属于IGBT老化设备技术领域,解决了我国自主生产的IGBT元件没有一款配套的、可靠的、低成本的老化设备,生产出的IGBT产品可靠性难以得到保证的问题。主要包括IGBT反向漏电流测试电路和大电流老化试验电路。本发明在IGBT生产领域具有重要意义,其低成本、高可靠性为整个行业创造了可观经济效益,且实现容易,实用性很强,可广泛应用于IGBT生产技术领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 igbt 模块 特性 老化 装置 | ||
【主权项】:
一种IGBT模块特性老化装置,其特征在于:包括由主控电路单元(1)、电气控制配电线路单元(2)、高压发生电路单元(3)、触发电路单元(4)、待测IGBT模块组(5)、反向漏电流检测电路单元(6)以及故障显示灯单元(7)构成的IGBT反向漏电流测试电路;由所述主控电路单元(1)、所述电气控制配电线路单元(2)、所述待测IGBT模块组(5)、所述触发电路单元(4)、大电流产生电路单元(8)、电流变送器(9)、电压变送器(10)以及显示电路单元(11)构成的大电流老化试验电路;所述主控电路单元(1)经电气控制配电线路单元(2)与所述高压发生电路单元(3)、大电流产生电路单元(8)电信号相连,所述高压发生电路单元(3)产生高直流电压,并将该高直流电压传输至所述待测IGBT模块组(5),同时所述待测IGBT模块组(5)由所述触发电路单元(4)触发导通,所述待测IGBT模块组(5)经所述反向漏电流检测电路单元(6)与所述主控电路单元(1)电信号相连,所述主控电路单元(1)判断检测到的IGBT元件反向漏电流值是否合格,并通过所述故障显示灯单元(7)显示;所述大电流产生电路单元(8)与所述待测IGBT模块组(5)电信号相连,所述待测IGBT模块组(5)由所述触发电路单元(4)触发导通,触发导通后经限流电阻形成大电流老化测试回路;该主回路上还设有电流变送器(9)、电压变送器(10),所述电流变送器(9)、电压变送器(10)将测试回路上的高压、大电流转换成低压直流信号,并将该低压直流信号传输至所述主控电路单元(1),由所述主控电路单元(1)经所述显示电路单元(11)显示老化电压、老化电流数值。
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