[发明专利]一种微波成像系统的幅相校正方法及系统有效
| 申请号： | 201710296524.3 | 申请日： | 2017-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN107132510B | 公开（公告）日： | 2018-10-26 |
| 发明（设计）人： | 祁春超;吴光胜;赵术开;肖千;王爱先 | 申请（专利权）人： | 深圳市太赫兹科技创新研究院;深圳市无牙太赫兹科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40;G01S13/89;G01S13/88;G01V3/12 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 阳开亮 |
| 地址： | 518102 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种微波成像系统的幅相校正方法及系统，其中，幅相校正方法包括：根据第一预设算法，对线性阵列天线获得的目标物体反射的回波信号在距离向进行数据处理，得到距离向压缩信号；提取所述距离向压缩信号在距离向的最大幅值所对应的距离值；根据所述距离值对所述回波信号进行时延补偿，得到时延补偿信号；根据第二预设算法，对所述时延补偿信号进行数据处理，得到幅相信号；根据所述时延补偿信号和所述幅相信号对所述回波信号进行幅相校正，得到校正回波信号。本发明通过直接利用对线性阵列天线获取的目标物体的回波信号进行幅相校正，不依赖于直达波，可以较好的补偿线性阵列天线各通道之间方向图的差异。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微波 成像 系统 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种微波成像系统的幅相校正方法，其特征在于，所述幅相校正方法包括：根据第一预设算法，对线性阵列天线获取的目标物体反射的回波信号在距离向进行数据处理，得到距离向压缩信号；提取所述距离向压缩信号在距离向的最大幅值所对应的距离值；根据所述距离值对所述回波信号进行时延补偿，得到时延补偿信号；根据第二预设算法，对所述时延补偿信号进行数据处理，得到幅相信号；根据所述时延补偿信号和所述幅相信号对所述回波信号进行幅相校正，得到校正回波信号；其中，所述第一预设算法包括补0和傅里叶逆变换；所述第二预设算法包括傅里叶逆变换和信号提取；所述根据第一预设算法对线性阵列天线获取的回波信号在距离向进行数据处理，得到距离向压缩信号具体包括：对所述回波信号的距离向数据的末端进行M倍补0操作，其中，M为正整数；对补0后的所述回波信号的距离向数据作距离向傅里叶逆变换，得到距离向压缩信号；所述根据第二预设算法对所述时延补偿信号进行数据处理，得到幅相信号具体包括：对所述时延补偿信号作距离向傅里叶逆变换，得到时延补偿距离向压缩数据；提取所述时延补偿距离向压缩数据中的起始点信号，得到幅相信号。
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